液体样品在EDXRF分析中面临的主要挑战之一是样品的流动性。液体容易泄漏或挥发,这不仅可能导致样品损失,还可能污染仪器内部,影响仪器的性能和寿命。因此,在分析液体样品时,通常需要使用专门的液体样品杯。这些样品杯通常由低原子序数的材料制成,如聚丙烯或聚四氟乙烯,以减少对X射线的吸收和干扰。样品杯的设计需要确保其密封性良好,能够有效防止液体泄漏或挥发。
此外,为了防止液体样品在分析过程中挥发或受到外界污染,通常需要在样品杯上加盖或使用密封膜。密封膜的材料选择非常重要,必须对X射线透明,以避免干扰分析结果。常用的材料包括聚酯薄膜,这种材料不仅具有良好的密封性,还能保证X射线的穿透性。
液体样品的均匀性虽然通常较好,但在某些情况下,液体中可能存在悬浮颗粒或分层现象,这会影响分析结果的准确性。因此,在分析前可能需要对液体样品进行预处理,例如过滤或稀释,以确保样品的均匀性。预处理过程中使用的装置,如过滤器或移液器,虽然不是EDXRF仪器的直接配件,但在分析过程中起到关键作用。
在EDXRF分析中,液体样品的厚度也需要特别注意。液体样品的厚度会影响X射线的穿透深度,进而影响信号的强度和检测限。过厚的样品可能导致X射线信号衰减,而过薄的样品则可能无法提供足够的信号强度。因此,选择合适的样品杯尺寸和控制液体样品的厚度是确保分析结果准确性的重要因素。
液体样品杯通常需要放置在样品支撑架上,以确保其在仪器中的位置固定。支撑架的设计应便于样品的放置和取出,同时避免对X射线的遮挡。此外,分析液体样品后,及时清洁仪器和样品杯也是非常重要的。液体样品的残留物可能会污染仪器,影响后续分析的准确性。因此,操作人员应在每次分析后仔细清洁仪器和相关配件。
EDXRF分析液体样品时通常需要一些特殊装置,如液体样品杯、密封膜和样品支撑架等。这些装置不仅能够确保液体样品在分析过程中的稳定性,还能有效防止样品泄漏或挥发,保护仪器的正常运行。同时,操作人员应注意样品的预处理和仪器的清洁维护,以提高分析结果的可靠性和重复性。通过合理使用这些装置和注意事项,EDXRF技术可以广泛应用于液体样品的元素分析,为环境监测、食品安全、化工生产等领域提供有力的技术支持。
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天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
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天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。