荧光光谱仪XRF在煤灰成分元素分析中扮演着至关重要的角色。XRF,即X射线荧光光谱法,是一种物理分析方法,其核心原理是利用X射线对样品进行照射。当X射线穿透煤灰样品时,煤中各类元素原子内壳层的电子被激发,从而产生跃迁现象。在电子回落到原始能级的过程中,会释放出具有特定能量的荧光X射线。这些荧光X射线的能量值与元素种类存在着一一对应的关系,就像是元素们独有的“身份标识”。
凭借高灵敏度的探测器,XRF技术能够精准捕捉这些荧光X射线,并通过复杂而精密的信号处理与分析系统,快速测定煤灰中诸如硅(SiO2)、铝(Al2O3)、铁(Fe2O3)、钙(CaO)等常量元素,以及镁(MgO)、钛(TiO2)、钾(K2O)、钠(Na2O)等元素的含量。此外,XRF技术还可以用于测定煤灰中磷(P2O5)和硫(SO2)以及微量元素的化合物含量。
在煤灰成分元素分析中,XRF技术具有诸多优势。首先,它操作更简单,不需要消耗化学试剂,更环保。其次,XRF技术能够迅速得出分析结果,大大提高了分析效率。再者,XRF技术具有高度的准确性和重现性,能够满足煤灰成分元素分析的严苛要求。
通过XRF技术分析煤灰成分,我们可以大致推测煤中矿物质组成,初步判断灰熔点的高低,这对于考虑煤灰的综合利用和从中回收某些成分的价值和方法具有重要意义。同时,根据煤灰中钾、钠和钙等碱性氧化成分的高低,我们还可以大致判断煤在燃烧时对锅炉的腐蚀情况,以及预判对环境污染的程度。
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天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。