产品简介
SUPER XRF 2400是一款功能强大的X荧光光谱仪。它综合了仪器的常规测试(普通模式)和特有的光路系统测试 (超锐模式),普通模式能完成全元素,贵金属,RoHS,镀层等常规测试,超锐模式能对客户比较关心的低含量元素进行更精确的测试。主要是使用天瑞仪器特有超锐光路系统,降低仪器的背景噪音,提高仪器的检出能力,从而提高仪器的整体检测性能。
SUPER XRF 2400是一款功能强大的X荧光光谱仪。它综合了仪器的常规测试(普通模式)和特有的光路系统测试 (超锐模式),普通模式能完成全元素,贵金属,RoHS,镀层等常规测试,超锐模式能对客户比较关心的低含量元素进行更精确的测试。主要是使用天瑞仪器特有超锐光路系统,降低仪器的背景噪音,提高仪器的检出能力,从而提高仪器的整体检测性能。
X荧光光谱仪性能特点
特殊光路系统
采用特殊的光路系统,可满足不同基体中痕量元素的测量,提高信噪比,降低检出限。
400W大功率X光源
400W大功率光源使难以激发的痕量元素获得更高的计数率,比普通EDXRF仪器的元素检出限降低一个数量级,更加适合痕量元素的检测。
数字多道技术
采用最新数字多道技术,仪器可探测的计数率可高至100kcps,提高了仪器的测量精度,缩短了测量时间。
油冷散热系统
油冷散热系统,保证了大功率X光源的散热,使仪器的运行更加稳定。
光闸系统
光闸系统,保证X光源的稳定性,同时提升X光管使用寿命。
抽真空系统
抽真空系统,可以满足轻元素的测量。
自动进样系统
自动进样系统,可以一次连续检测十二个样品,大大提高了测试人员的工作效率。
X荧光光谱仪仪器技术指标
元素分析范围从钠(Na)到铀(U)
可进行测试模式之间的转换,提高测试的效率
可对12个样品进行自动切换测试
一次可同时分析最多几十种元素
分析检出限最高可达0.1ppm
分析含量一般为0.1ppm到99.9%
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
长期工作稳定性为0.1%
温度适应范围为15℃至30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
X荧光光谱仪标准配置
超锐X光源和样品激发机构
上盖电动开关的大容量样品腔
可自动切换的准直器,滤光片
高清晰CCD摄像头
SDD探测器
数字多道采集处理系统
高低压电源
进口400W端窗光管油冷散热系统,具有自动控温功能
样品自动切换系统
全自动真空系统
专业X荧光分析软件
计算机及喷墨打印机
外观尺寸: 752(W)x759(L)x 988(H)
样品腔尺寸:¢376×50 mm
重量:小于250Kg
X荧光光谱仪应用领域
SUPER XRF 2400不仅可满足中心实验室和分包实验室的分析需要,而且适用于环境监测、化工、采矿、鉴定、食品、电子、水泥和冶金行业
一、品牌
天瑞在1992年研发出了中国第一台能量色散X射线荧光光谱仪,至今已经有25年以上经验积累,目前是国内一家真正有实力自主研发光谱仪及上市的公司,目前公司市值已超百亿,在全国拥有多家子公司,团队规模达3000人,成为中国乃至世界检测分析行业的引领者和知名品牌。
二、软硬件
1天瑞每年耗巨资研发软件,对所有客户承诺软件终身免费升级,做到时时跟进欧盟RoHS环保指令,让客户买的仪器终生不过时。
2天瑞仪器的主要三大核心配件均来自美国进口,天瑞严格杜绝利用翻新配件和国产劣质配件,在业内树立了诚信经营的企业形象。
三、客户认可
天瑞仪器在环保测试领域占据80%以上的市场份额,得到了绝大客户的认可,是三星,华为,创维,格力,美的,富士康等大型企业指定的RoHS测试仪。
四、仪器精度
天瑞仪器创始人是原清华大学核物理研究院刘博士,他掌握了世界先进的光谱、质谱、色谱三大核心技术,对产品要求精益求精,把仪器的精准度管制在99.99%,检出限可达1ppm,重复稳定性达到0.1%以内,在同行相比天瑞技术遥遥领先。
五、售后服务
天瑞仪器在全国各省市建立了完善的服务网点,为所有的客户服务做到及时周到,保证售后服务2小时内响应,并上门快速解决问题,提供仪器终身维护保养。
(与天瑞大公司,大品牌合作完全没有后顾之忧,我们让客户买的放心、用的安心。天瑞为您的企业发展之路保驾护航!)
天瑞仪器EDX1800B:下一篇
江苏天瑞仪器股份有限公司
电 话:138 0228 4651
邮箱:rohsxrf@126.com
江苏地址:江苏省昆山市玉山镇中华园西路1888号天瑞产业园
深圳地址:深圳市宝安区松岗街道芙蓉东路桃花园科技创新园琦丰达大厦22楼
天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。