汽车零部件、达克罗 测厚仪是一款检测电镀层厚度的仪器,因为在汽车零部件的生产过程中,很多的部件都需要用到电镀表面处理,比如镀锌镍合金,镀铜镀镍等电镀的处理,在电镀处理的过程中,镀的太厚了可能不符合规格要求,镀的太薄了,又可能达不到指标要求,以需要一台能快速检测镀层厚度的仪器。
由于每一种元素的原子能级结构都是特定的,它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的,称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量,便可以确定相应元素的存在,而特征X射线的强弱(或者说X射线光子的)则代表该元素的含量。
一、镀层测厚仪介绍
X射线电镀测厚仪仪器优点:
2、无损,无需要破坏样品,直接经过X射线照射,就可得出镀层厚度数据
二、X射线镀层测厚仪Thick800A介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司 研发生产的镀层测厚仪Thick 800A
X射线镀层测厚仪Thick800A是天瑞仪器在Thick 680的基础上研发生产的*一代镀层测厚仪。新仪器在硬件、软件上都有很大的改进,运用*型的上照式设计,配备*的Si-Pin半导体探测器,软件上加入了无标样FP法的,使仪器在镀层行业的运用上更广泛了。而且天瑞仪器更是从美国采购了全套的电镀镀层标样,能够满足电镀和表面处理厂家几乎有的镀层厚度的测量。同时仪器还可以分析电镀液及镀层成分的分析。
1、上照式,X射线光线从上方照射到检测样品上,对样品的形状没有要求,可以满足不规则样品的测试需求,而且更适合测量硅晶片等不适合接触测量台的样品;
3、样品测试平台,仪器可分为手动移动平台和高精度的可编程的自动移动平台,重复定位的精度小于0.005mm;
5、视频摄像头,配备高精度视频摄像头,样品放入样品腔,可以实时观测样品,同时鼠标可控制移动平台,保证鼠标点击的位置就是被测点;
7、良好的射线屏蔽作用,保证X射线,只有在铅玻璃保证罩完全关闭时,X射线才会开启,保护操作人员不会受到辐射的危险。
技术参数:
2、*多可以分析五层金属镀层厚度(4种镀层+底层基材),一次可同时分析多达24个元素;
4、移动样品平台100mm×100mm;
6、重量:90KG
标准配置:
2、系统软件光盘一片
4、电脑一台(联想)
6、数据线及电源线若干。
1、PCB板行业,镀金镀镍镀铜、镀锡镀铜等镀层厚度测量;
3、紧固件螺丝及螺母防腐镀层测量,如铁镀锌、铁镀镍镀锌等镀层厚度测量;
5、电子元器件,二极管、圆晶镀层测量,如铜镀锡、镀银,圆晶镀银、镀硅的厚度测量;
6、电镀和表面处理企业的电镀镀层测量
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江苏天瑞仪器股份有限公司
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天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。