性能优势
直读光谱仪OES1000采用光电倍增管(PMT)技术和独特光路设计使其具有优异性能,尤其对真空紫外谱线(涉及C、P、S、B、Sn等元素)、常量和痕量含量元素的检测有独特优势,是追求高性能测试用户的首选。
全天候工作,具有优异的稳定性和可靠性
样品测试速度快,单次测试过程少于40秒
软件可对测试结果自动判定牌号
仪器使用和维护简单、方便,对人员专业要求低
原厂安装分析程序,测试数据精确,适用合金牌号齐全
配置标准化样品可对仪器进行周期性校正
不使用化学试剂,测试过程安全、环保
技术性能及参数
1.分光室设计
帕邢-龙格装置,1米焦距
根据测试需求分为真空型(真空度≤3Pa)、空气型两种
恒温控制(32℃±0.1℃)
特殊材质铸造,保证光室形变小
2.最多安装通道 32
3.凹面光栅
刻线密度2160gr/mm
曲率半径998.8mm
逆线色散率0.47nm/mm
波长范围170-463nm
4.狭缝宽度
入射狭缝20μm,
出射狭缝为整体狭缝,宽度为35-75μm
5.光电倍增管
10级侧窗型,熔融石英或玻璃外壳;
6.分析时间
依样品种类而不同,一般少于40秒
7.激发光源
高能预火花光源(HEPS),放电频率100-900Hz,电极间距3-4mm
8.测光方式
采用光电倍增管检测器测光,光电倍增管负高压连续可调,传统的分段积分法
9.控制系统
采用FPGA技术控制整个仪器的工作状态
10.尺寸和重量
尺寸:1680(长)×1020(宽)×1150(高)mm
重量:约500kg
应用领域
金属材料元素含量测试是金属冶炼、铸造、加工以及机械行业的研发、生产控制、质量检验等相关工作的传统测试项目。
天瑞仪器直读光谱仪广泛应用于钢铁、有色金属材料元素含量分析,可快速、精确、稳定、同时测试几十种元素, 测试过程便捷、环保、低成本,满足工业研发、工艺控制、进料检验、产品分选等多方面的需求。
天瑞仪器直读光谱仪的快速测试使研发、生产过程和质量更可控,帮助用户提升产品的技术、质量水平;使相关流程加快,为用户创造明显的经济效益和环保效益。直读光谱仪已成为衡量企业技术和质量水平的标志性设备。
技术优势
全谱检测全面测试各种金属和元素
基于CCD检测器全谱测试技术,全面测试各种金属中元素的谱线,方便实现多基体、多元素的测试。
配置和补充测试基体、通道、分析程序极为方便,方便交货后在客户处补充测试元素、分析程序。
专业的测试方案
长期测试技术服务的积淀,天瑞仪器为钢铁、有色金属材料分析用户提供成熟的测试方案。
测试方案采用针对材料元素含量分类的分析程序,满足用户各类常见测试需求。
分析程序由原厂采用国际、国家标准样品校准,经专业仪器软件拟合、校正。
用户只需采用原厂配置少量标准化样品即可完成日常维护,不需购买大量制作分析程序的标准样品。
国际知名供应商提供核心部件
光谱色散元件——光栅由德国Zeiss制造,保证优异的光谱分辨能力
光谱检测器——高性能CCD由日本滨松Hamamatsu制造,确保谱线检测灵敏、低噪声
光学镜片——德国Zeiss制造,光纤——美国Agilent制造
光室真空系统
光室真空腔体经精密设计和加工,密闭性能优异,为光路提供优质的高真空环境。
因此真空泵启动时间和次数极少,电力消耗极少,更好保持光室清洁。
优秀的光室恒温系统
光室恒温腔体内配置反馈式加热装置和高效隔温层,有效保证光室内恒温。
由此抑制温度变化下机械件尺寸微弱变化导致的光路漂移。同时光电器件工作在恒温环境有助于性能的稳定。
天瑞仪器光谱仪厂家
天瑞仪器介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业,注册资本15392万。上市公司。
旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家全资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司专业从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
江苏天瑞仪器股份有限公司
电 话:138 0228 4651
邮箱:rohsxrf@126.com
江苏地址:江苏省昆山市玉山镇中华园西路1888号天瑞产业园
深圳地址:深圳市宝安区松岗街道芙蓉东路桃花园科技创新园琦丰达大厦22楼
天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。