江苏天瑞仪器股份有限公司
Jiangsu Skyray Instrument Co., Ltd.
大气颗粒物在线分析仪用于连续在线监测环境空气中颗粒物的质量浓度。仪器采用符合美国环保署标准和国家标准的β射线吸收法，结合成熟的大气颗粒物采样富集技术，精确测量大气中PM2.5(PM10/TSP)颗粒物质量浓度。简约可靠的机械结构设计和模块化设计理念，保证仪器长时间稳定运行，让颗粒物质量浓度在线监测简单、可靠、高效！
性能特点
可选配置不同规格的空气颗粒物切割器（PM1、PM2.5、PM10、TSP），实现大气颗粒物不同粒径的分布测量
采用符合US EPA标准以及国家标准的β射线吸收法
以低辐射C-14为β射线源，全面防辐射处理，安全可靠，即使仪器内部也无任何辐射泄漏
简约可靠的机械结构和气流系统，通过质量流量控制器实现对采样流速的精确测量控制
颗粒物富集和检测处于同一通道，彻底消除滤纸运动产生的误差
动态加热系统（DHS）既能消除空气湿度干扰又同时保留颗粒物中挥发性成分
区别于其他厂家采用传统的盖革-米勒计数器，用闪烁体光电倍增管作为β射线探测器具有更佳的探测效率和更长的、5年以上的使用寿命
全通管道加热，加热效能更高，速度更快，可适应突变的天气状况
中英文操作界面、图形化显示，内置自检和诊断，可存储半年以上的数据量，并通过专用软件下载数据
仪器维护量少，故障率低，每年仅需校准检查一次；支持省纸模式，可两年以上不需要更换滤纸
具有RS232/485、以太网等多种对外接口，可实现运行参数、状态以及数据的远程传输和监控
国际标准19”机箱设计，可方便安装于标准机柜上
应用领域
EPM-2050可以连续测量并分析大气中PM2.5/PM10/TSP颗粒物，并有如下应用
1.大气质量监测
2.空气颗粒物特征分析
3.大气背景测量
4.环境评价、许可
5.污染预测预警
配件/备件
1.符合美国EPA标准的空气颗粒物切割器：TSP, PM10,PM2.5（SCC）…
2.动态加热系统管道选型：（1.5m，2m，2.5m …）
3.薄膜泵组件
4.标准机柜
技术参数
最低检测限：≤2μg/m3（24小时平均值）
测试浓度范围：0~1000μg/m3或0~10000μg/m3
测试分辨率：0.1μg/m3
准确度：≤5%（24小时）
流量稳定性：≤2%（一般设定于16.67L/min）
测量周期：≤1h（时间可设定）
平行性：≤10%
浓度显示周期：默认一小时，可设定
对外接口：RS-232/485、RJ45、4~20mA、TTL等多种数据传输、控制方式
工作条件：
切割器工作条件：环境温度（-40~50）℃，大气压（80~106）kPa
监测仪工作条件：环境温度（15~40）℃，环境湿度（≤90%）大气压（80~106）kPa
工作电源：AC（220±22）V，（50±1）Hz
仪器尺寸重量：417×483×382 mm（L x W x H）监测仪25kg/泵7.5kg
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江苏天瑞仪器股份有限公司
电 话：138 0228 4651
邮箱：rohsxrf@126.com
江苏地址：江苏省昆山市玉山镇中华园西路1888号天瑞产业园
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天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心，分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成：院士1名，博士11名，高级工程师13名，硕士17名，知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生：清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准，享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业，从事分析仪器开发26年，主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究，并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关，获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等，并参与起草制定了多项国家标准行业标准，是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP（基本参数）算法是X射线荧光光谱分析的有效方法，能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析，也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知，X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响（基体吸收和增强效应），与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中，已经考虑到了基体效应，可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系，使用少数已知样品校正算法去除系统误差，即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景，提高信噪比，降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上，则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动，振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发，产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射，将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应，降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品，样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少，天瑞仪器设计出超短光路技术，确保轻元素检测结果的准确性，特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位，微区扫描分析，空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置，实现了小空间内的位置旋转切换，避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动，因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试，在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术，无需标样即可进行全元素分析，引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试，在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术，无需标样即可进行全元素分析，引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术，能有效的去除杂音信号干扰，最大限度降低元素检出限，
如图SUPER XRF 1050，对食品中Pb的测定 ，最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件，能够对80种元素进行精准分析，无标样定量分析，微区分析，薄膜分析，高级次谱线分析。
