电感耦合等离子体质谱仪 (简称ICP-MS),是20世纪80年代发展起来的一种新的微量(10-6)、痕量(10-9)和超痕量(10-12)元素分析技术。ICP-MS可测定元素周期表中大部分元素,且具有极低的检出限、极宽的动态线性范围、谱线简单、干扰少、精密度高、分析速度快等性能优势。
ICP-MS2000系列是天瑞自主研发产品,目前有ICP-MS2000B、ICP-MS2000E两款型号。ICP-MS2000系列仪器各项性能均优于国家规范,完全满足不同行业用户应用需求,性价比高;目前该产品主要应用于环境、食品、半导体、医药及生理分析、核工业领域等。
ICP-MS2000系列具有卓越的仪器性能,高效的分析效果。仪器日常运行消耗器材均自主研发,性价比高。同时我们提供优质售后服务,10分钟响应、48小时内上门服务、客服中心随时跟踪服务、保证服务质量。
ICP-MS 2000B性能特点
先进的等离子体屏蔽技术,极大提高仪器的灵敏度,改善低质量元素的检出限。保证冷等离子体模式等应用,无需使用碰撞/反应气,即可使K、Na、Ca、Mg、Fe等易电离元素检出限低至ng.L-1。
2.ICP-MS 2000E性能特点
配置250位全自动进样器,以太通信进口,定位精度小于500μm。
ICP-2000系列电感耦合等离子体质谱仪同样均具有以下优异的性能及特点:
等离子体位置XYZ三维由计算机控制全自动精确调节,调节幅度精确至步进0.1mm;
炬管为一体式石英同心炬管,避免拆卸式矩管的繁琐操作以及可能由此导致的损坏;
敞开式进样系统结构,插入式安装,自我定位,维护方便;
高稳定性和精密度的带撞击球玻璃雾化室,雾化室标配半导体制冷,对雾化室制冷控温范围为-20℃-20℃,制冷迅速可在三分钟内由室温降至2℃,以适应不同基体的控温要求;
接口室由采样锥、截取锥两部分组成。标准配置包含采样锥(锥孔1.1mm),和具有优秀耐盐性能的截取锥(锥孔0.75mm);另可根据用户实际需求选配高灵敏度截取锥;
独特的活动接口门结构,无需泄真空即可装卸采样锥和截取锥,维护方便;
配置高效率六极杆离子导向系统,在全质量范围内获得最佳的离子传输效率;由计算机控制全自动离子聚焦调谐过程。真空室内的透镜采用非对称安装,方便拆装定位;
离子透镜包括提取透镜和偏转透镜,采用二次离轴设计,避免中性粒子和电子进入质量分析器,降低背景;离子透镜、六级杆和四级杆均为免拆洗维护设计,极大地减少维护工作量;
使用进口、超长的纯钼四级杆,为仪器提供极佳的灵敏度及分辨率;
长寿命ETP双模式检测器,分成两部分分列打拿极电子倍增器,由计算机控制自动进行数/模切换;
友好的人机交互界面,符合国人使用习惯的全中文软件。提供自动控制仪器及其附件的能力,完美适应Windows 2000/XP/vista/win7(32位或64位)专业操作系统;
ICP 2000:下一篇
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天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。