FT-IR 6600傅立叶变换红外光谱仪
工作原理
FT-IR 6600傅立叶变换红外光谱仪是利用干涉仪干涉调频的工作原理,将光源发出的信号以干涉图的形式送往计算机进行Fourier变换的数学处理,最后将干涉图还原成光谱图。主要部件包括:陶瓷光源、Michelson干涉仪、检测器、计算机和记录仪。
图1 傅立叶变换红外光谱仪工作原理示意图
图2 傅立叶变换红外光谱仪FT-IR 6600外观图
产品特点
智能操作软件
● 智能的人机交互设计,易于操作;
● 可供选择的激光频率校正模式;
● 独到的数据采集预览全程监控模式;
● 拥有系列专业红外谱库及用户自定义谱库功能。
高可靠性的系统
● 采用高品质的长寿命陶瓷光源,发光效率高达80%;
● 光学部件采用高精密金刚石车床加工,具有较高的一致性和稳定性;
● 密封型干涉仪设计,采用进口镀金角锥反射镜,提供极高的反射率和角度精确度;
● 高灵敏度的进口DLATGS接收器;
● 高效防潮能力,可视窗口便于观察分子筛;
● 对针定位安装方式,无需调整。
人性化设计
● 超大样品仓设计,方便扩展各种红外附件;
● 推拉式样品仓门设计,减小外界空气对实验的干扰;
● 模块化设计,布局紧凑,小巧轻便,易于维护。
规格参数
光谱范围:7800~350 cm-1
分辨率:优于1.0 cm-1
100%τ线倾斜范围:优于0.5τ%(2200~1900cm-1 )
信噪比:15000:1 (P-P值,4cm-1,一分钟扫描)
分束器:KBr基片镀锗
光源: 高能量、高效率、长寿命陶瓷光源
干涉仪:30度入射角Michelson干涉仪
接收器:带有防潮膜的高灵敏度DLATGS接收器
尺寸:450mm×350mm×235 mm
重量:14.2 Kg
数据传输接口:USB2.0
支持系统:Windows XP、Windows Vista、Windows 7、Windows 8
实测图谱:
相关附件
压片机
常规压片附件
压片模具
直径13mm,可压溴化钾等粉末
玛瑙研钵
天然一级品玛瑙,用于把固体样品研碎或使固体样品混合均匀
红外烤箱
温控范围:70℃~250℃,用于烘烤干燥剂,KBr及样品
液体池
透过范围2.5μm~25μm
衰减全反射(ATR)采样附件
ZnSe晶体
便携式翡翠鉴定仪器:下一篇
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天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。