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能量色散X荧光光谱仪EDXRF 波长色散X荧光光谱仪WDXRF ROHS2.0无卤检测分析仪电镀镀层厚度检测仪XRF 气相色谱质谱联用仪GCMS 电火花光电直读光谱仪OES 原子吸收分光光度计AAS 环保在线监测仪CEMS 电感耦合等离子体发射光谱ICP 红外光谱仪 IR 液相色谱仪 LC 气相色谱仪 GC 离子色谱仪 IC

气相色谱仪 GC

气相色谱仪GC5400

产品详细

产品说明、技术参数及配置

性能优势

一目了然的显示画面
大屏幕显示器，实现中文菜单式对话，使得显示更明了，操作更简单。可显示程升曲线和基流电平（需配置采集板），在一屏画面内同时显示柱箱、进样器、检测器等的温度设定值和实际值，能提供更为丰富多彩的仪器信息。

先进的微机系统，卓越的控制功能
1、性能卓越的微机温度控制系统，采用了国际先进的制造技术，控温精度高（优于±0.05℃）、可靠性高、抗干扰能力强；具有6个独立的控温区，最高控制温度达400℃；极限温度设定及过温保护功能，确保仪器的安全运行。
2、全中文键盘设定各种控制和使用参数（包括检测器操作参数），逻辑性强，容易操作；仪器具有自诊断、断电保护、检测器设定、量程，极性和电流设置与显示等功能，可准确显示各路温控设定值、实际值、保留和分析时间等。

高性能大容量柱箱
大容量柱箱能同时容纳毛细管柱和双填充柱；柱箱具有快速加热和快速降温即自动后开门机构（10min以内从300℃降至50℃，能根据温度变化自动调节开门角度），且可实现准室温控制，柱箱具有10阶11平台程序升温（需反控软件支持）。

高精度双重稳定气路
载气流路采用稳压阀及稳流阀双重稳定设计；空气和氢气流路采用稳压阀加针形阀的稳定调节模式、稳流阀和针形阀均采用数字刻度式旋钮，具有高精度、重复性好、可靠性高且流量调节方便直观。

灵活的进样系统，满足各种分析要求
仪器可同时安装多达三个进样器，根据分析要求，可选择最佳进样器组合，且各单元可独立控温，进样器拆装简单。
单填充柱/双填充柱进样器（PIP）：
可实现填充柱柱头进样方式，适用多种色谱柱；增加六通阀进行气体进样分析；在填充柱进样器中使用连接件，可简便地完成0.53宽口径毛细管柱分析。
单毛细管柱/双毛细管柱进样器(SPL)：
专用毛细管柱进样器，具有隔膜吹扫和背压阀分流调节，适用于各种规格的毛细管柱。

高灵敏度、高稳定性检测器
仪器可同时安装多达三个检测器，如FID、TCD检测器等。
根据不同的分析应用采用不同的组合，能方便的实现检测器的串联和并联工作。
新型的FID具有更低的检测限，可方便地进行喷口和离子收集部件的拆卸、清洗，精确固定的发射极安装结构确保每台仪器性能的高度一致。
独特的空气隔热保温结构使TCD具有更高的稳定性。
高灵敏度HTCD采用高阻值铼钨丝，灵敏度最高可达10000mV﹒mL/mg。

全新的内置式采集系统
先进的内置式采集装置，可采集仪器控制状态和色谱输出信号，实现用一根通讯线连接外部电脑，进行仪器实时控制和数据处理。（需配置反控软件和采集板）
实时控制包括各路温度控制、检测器选择与设置、程序升温控制和程序升温曲线跟踪、流量值显示等功能。
数据处理包括双通道（可扩充至多通道）色谱数据高速采集、积分参数自动或手动设置、多达5种定量方法、基线扣除、报告编制等功能。

数字化的载气流量监测系统
GC5400气路系统可选配最新的数字化流量监测单元，通过屏幕显示载气流量、毛细管分流流量值，最多可显示4组流量，且流量参数可自动存储，便于分析条件的记录和调用。方便了分流调节与分流比计算，无需使用皂膜流量计。

技术指标

温度控制
控温范围：室温上7℃~400℃（增量1℃）
控温对象：柱箱、前后检测器、前后进样器、辅助，共6路
程升阶数：七阶
程升速率：0.1℃~40℃/min（增量0.1℃）
恒温时间：0~655min（增量1min）

氢火焰离子化检测器（FID）
敏感度：M≤8×10-12g/s 样品C16
最佳测试结果：M≤3×10-12g/s 样品C16
噪声：≤5×10-14A
漂移：≤6×10-13A/h
线性范围：≥106

热导池检测器（TCD）
灵敏度：≥5000mV﹒mL/mg 样品C16
噪声：≤20μV
漂移：≤30μV/h
线性范围：≥104

标准配置

主机

GC5400 气相色谱仪主机大屏幕中文显示器、高性能柱箱、双重稳定气路

进样器

PIP 填充柱进样器可实现柱头进样方式，适用于各规格填充柱
SPL 毛细管柱进样器具有隔膜吹扫和背压阀分流调节、尾吹调节功能

检测器

FID 氢火焰离子化检测器采用积木式结构，使拆卸、清洗更为方便
TCD 热导检测器优质铼钨丝，恒流源控制，双填充柱平衡方式
HTCD 高灵敏度热导检测器优质铼钨丝，恒流源控制，双填充柱平衡方式

选配件

反控软件及采集板通过电脑控制仪器温度、程升及数据处理
数字流量显示组件通过主机屏幕显示流量值

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联系天瑞仪器

江苏天瑞仪器股份有限公司
电话：138 0228 4651
邮箱：rohsxrf@126.com
江苏地址：江苏省昆山市玉山镇中华园西路1888号天瑞产业园
深圳地址：深圳市宝安区松岗街道芙蓉东路桃花园科技创新园琦丰达大厦22楼

为什么选择天瑞仪器？

一、行业引领者：

2011年深交所上市公司（代码：300165），
分析仪器行业内首屈一指的引路者

天瑞仪器作为国内化学分析行业的领航者，专业生产光谱仪、色谱仪、质谱仪为主的高端分析仪器。主要应用于环境保护与安全（电子、电气、玩具等各类消费品行业、食品安全、空气、土壤、水质污染检测等）、工业生产质量控制（冶金、建材、石油、化工、贵金属、医疗器械等）、矿产与资源（地质、采矿）、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等众多领域。核心专利技术同行业中第一；销售量同行业中第一；产品种类同行业中第一；

二、标准的制定者：

天瑞仪器参与起草和制定了18项国家标准、
行业标准，自信于行业的话语权。

GBT 28020-2011 饰品有害元素的测定 X射线荧光光谱法
GBT 31364-2015能量色散X射线荧光光谱仪主要性能测试方法
GBT 33352-2016电子电气产品中限用物质筛选应用通则 x射线荧光光谱法
GB/T 25934.1-2010高纯金化学分析方法乙酸乙酯萃取分离ICP-AES光谱法测定杂质元素的含量
GB/T 27730-2011玩具产品中富马酸二甲酯含量的测定气相色谱-质谱联用GC-MS法
GB/T 28020-2011饰品有害元素的测定 X射线荧光光谱法
GBT 22788-2008玩具表面涂层中总铅含量的测定
GB/T 30419-2013玩具材料中可迁移元素锑砷钡镉铬铅汞硒的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
GB/T 31364-2015能量色散X射线荧光光谱仪主要性能测试方法
JBT 12962.1-2016能量色散X射线荧光光谱仪第1部分：通用技术
JBT 12962.2-2016能量色散X射线荧光光谱仪第2部分：元素分析仪
JBT 12962.3-2016能量色散X射线荧光光谱仪第3部分：镀层厚度分析仪
LS_T 6115-2016.4672 LST6115-2016《粮油检验稻谷中镉含量快速测定X射线荧光光谱法》标准
（未完待续……）

三、技术开创者：

252项实用专利，填补国内空白，打破进口垄断中前行

截至2017年末，天瑞仪器公司及其子公司已获得国家知识产权局授权专利252项，
《计算机软件著作权登记证书》91项；
其中发明专利115项，
实用新型专利80项，
外观专利57项。

四、服务践行者：

天瑞仪器不忘初心，与客户同命运，共成长。

天瑞仪器的客户有：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家博物馆、
中国国家地质实验测试中心、中国地质科学院、中国科学院长春光机所、中国泰尔实验室、
等政府部门和知名检测机构，
以及中石油、中石化、华为、海尔、创维、方太、美菱、光宝、TCL、LG、美的、三星、华测(CTI)、中航电测等。

研发实力：

天瑞分析测试仪器研究院

天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心，分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成：院士1名，博士11名，高级工程师13名，硕士17名，知名大学本科研发人员50名。

刘召贵博士，国务院特殊津贴专家

刘召贵先生：清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准，享受国务院政府特殊津贴。

姚栋梁博士，X射线荧光光谱领域专家

姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业，从事分析仪器开发26年，主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究，并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关，获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等，并参与起草制定了多项国家标准行业标准，是我国X荧光光谱仪行业权威专家。

八大技术优势：

一、FP基本参数法

FP（基本参数）算法是X射线荧光光谱分析的有效方法，能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析，也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。众所周知，X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响（基体吸收和增强效应），与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中，已经考虑到了基体效应，可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系，使用少数已知样品校正算法去除系统误差，即可达到精确定量的目的。

二、偏振二次靶激发技术

偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景，提高信噪比，降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上，则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动，振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发，产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射，将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应，降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。