江苏天瑞仪器股份有限公司
Jiangsu Skyray Instrument Co., Ltd.
天瑞新型X荧光贵金属检测仪 EDX 3000 PLUS 在测量金、银、铂、钯等贵金属含量上功能独到。采用25mm2大面积铍窗探测器，可准确无误地分析出黄金，铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量，测试结果完全符合国标GB/T 18043-2000要求。
黄金贵重，仪器贵精。EDX 3000 PLUS最闪耀的亮点在于超高精确度、超高分辨率、更清晰的摄像头、一键式智能操作，一切让贵金属检测如此简单！
性能优势
超高分辨率，世界一流：
采用世界上最好的SDD硅漂移探测器 ，分辨率为139±5ev ，而常规的Si-PIN探测器，分辨率为160±5eV， 能更好的检测铂金中铱和金的含量。
超高精确度，性能最优：
使用25mm 2大面积铍窗探测器，大大提高样品特征X荧光的接收能力。配合数字多道分析器技术，提高分析速度，总体提高系统处理能力，计数率最大可达8万，比Si-PIN 6mm2探头提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
超清晰摄像头，精确定位：
采用新型工业级相机，样品图像更加清晰，轻松实现精准定位。
小准直器，轻松实现精小部位测试：
提供多种准直器，直径最小达0.2mm，可轻松实现精小部位的精确测试，同时可根据测试需求电动切换准直器，使测量更加轻松更加准确。
一键式智能式操作，省去选曲线烦恼：
FP法的完整使用，只需一键操作即可智能化自动匹配曲线，操作一步到位。
技术参数
元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达ppm级
分析含量一般为ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
多次测量重复性可达0.02％（含量96％以上）
长期工作稳定性为0.05％（含量96％以上）
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：139±5eV
仪器配置
移动样品平台
信噪比增强器
SDD探测器
数字多道分析系统
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
质量：45Kg
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测
天瑞仪器全元素分析仪：下一篇
江苏天瑞仪器股份有限公司
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江苏地址：江苏省昆山市玉山镇中华园西路1888号天瑞产业园
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天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心，分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成：院士1名，博士11名，高级工程师13名，硕士17名，知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生：清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准，享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业，从事分析仪器开发26年，主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究，并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关，获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等，并参与起草制定了多项国家标准行业标准，是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP（基本参数）算法是X射线荧光光谱分析的有效方法，能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析，也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知，X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响（基体吸收和增强效应），与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中，已经考虑到了基体效应，可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系，使用少数已知样品校正算法去除系统误差，即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景，提高信噪比，降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上，则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动，振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发，产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射，将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应，降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品，样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少，天瑞仪器设计出超短光路技术，确保轻元素检测结果的准确性，特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位，微区扫描分析，空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置，实现了小空间内的位置旋转切换，避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动，因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试，在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术，无需标样即可进行全元素分析，引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试，在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术，无需标样即可进行全元素分析，引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术，能有效的去除杂音信号干扰，最大限度降低元素检出限，
如图SUPER XRF 1050，对食品中Pb的测定 ，最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件，能够对80种元素进行精准分析，无标样定量分析，微区分析，薄膜分析，高级次谱线分析。
