江苏天瑞仪器股份有限公司
Jiangsu Skyray Instrument Co., Ltd.
X荧光光谱仪属于先进的分析检测仪器，随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展，传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式，转化成光、机、电、算（计算机）一体化、自动化的结构，并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。天瑞公司在以已掌握的成熟的台式X荧光光谱仪技术为基础，结合国外相关最新的技术发展成果，研制出具有自主知识产权的EDX 3600K型X荧光光谱仪。
EDX 3600K X荧光光谱仪最大的亮点在于它大铍窗超薄口的高分辨SDD探测器和自旋式的样品腔，产品通过了江苏省计量科学研究院的检测，并通过中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定，技术达到国际先进水平。
应用领域：
专为粉未冶炼行业研发的一款高端设备，主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉未冶金分析行业、石油勘探录井分析领域。
同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中也得到广泛应用。
性能优势：
1.超低能量分辨率，轻元素检测效果更佳
使用大面积铍窗电致冷SDD探测器，探测器分辨率最低达到139eV，各项指标优于国家标准。SDD探测器具有良好的能量线
性、良好的能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；对Si、S、AI等轻元素的测试具有良好的分析精度。
2. 测试精度更高，检出限更低
①专业化的样品腔设计，带可调速的自旋样品腔，能有效的测定轻元素和减少样品均一性的影响，提高样品的测试精度。
②采用超小超真空的样品腔设计，保证测试时达到10Pa以下，使设备的测试范围可从F元素起测试，大大地提高测试范围、轻元素检出限和精度。
3. 分析速度更快，从第1秒即可得到定性定量结果
采用自主研发的数字多道技术，其最大线性计数率可达100kcps，可以更加快速的分析，从第1秒就可以得出定性定量结果，
设计成高计数率，大大提高了设备的稳定性。
4. 一键式智能化操作
专业软件，先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作，使操作简易，对操作人员限制小的特点。
5. 强大的自动化功能
①自动化程度高，具有自动开盖、自动切换准直器与滤光片等功能。
②采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性：利用解谱技术使谱峰分解，采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。
6. 强度校正法
具有多种测试模式设置和无限数目模式的自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
7. 完善的光路系统
自主研发的光路系统，光程更短，光路损失更少，激发效果更佳。
8. 三重安全防护功能
三重安全防护功能，自动感应，没有样品时仪器不工作，无射线泄漏；加厚防护测试壁；配送测试防护安全罩。
9. 安全警示系统
警告指示系统，通电时绿色指示灯亮，测试时黄色辐射指示灯闪烁，防止误操作。
仪器配置：
铍窗电制冷SDD探测器
自旋式样品腔
高效超薄窗X光管
信噪比增强器SNE
超近光路增强系统
可自动开启的测试盖
自动切换型准直器和滤光片
真空腔体
自动稳谱装置
90mm×70mm的液晶屏
最先进的数字多道技术
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型
技术参数：
型号：EDX3600K
X射线源：50KV、1mA
样品腔体积：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X荧光分析方法
测量元素范围：原子序数为9～92[氟（F）到铀（U）]之间的元素均可测量
检测元素：同时分析元素达三十多种，可根据客户需要增加元素
含量范围：ppm～99.99%
检测时间：10秒以上
检测对象：标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末
探测器及分辨率：超大超薄的SDD探测器，分辨率 为144±5eV,可选配极速探测器最低至125eV
激发源：铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择
摄像头：高清摄像头
测井环境：超真空系统，10秒可抽到10Pa以下，大气、氦气均可以
准直器和滤光片：四组准直器（7、5、3、1mm），6种滤光片组合自动切换
自旋装置：可调速的自旋装置
检出限：对样品中的大多数元素来说，最低检出限达5～500ppm
真空系统：超真空系统，10秒可到10Pa
数据传输：数字多道技术，快速分析，高计数率
测试台：360°电动旋转式
保护系统：样品腔为电动控制，上盖打开时测试已完成
样品放置：独特的样品杯设计，自带压环，可防止样品晃动
数字多道技术：计数率>50kcps，有效计数率高至500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度：15℃～30℃
软件优势：
采用公司最新的能谱EDXRF软件，先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作，操作简易，对操作人员限制小的特点。
具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
全新的软件界面和内核，采用FP和EC软件组合的方法，应用面更加广泛。
江苏天瑞仪器股份有限公司
电 话：138 0228 4651
邮箱：rohsxrf@126.com
江苏地址：江苏省昆山市玉山镇中华园西路1888号天瑞产业园
深圳地址：深圳市宝安区松岗街道芙蓉东路桃花园科技创新园琦丰达大厦22楼
天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心，分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成：院士1名，博士11名，高级工程师13名，硕士17名，知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生：清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准，享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业，从事分析仪器开发26年，主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究，并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关，获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等，并参与起草制定了多项国家标准行业标准，是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP（基本参数）算法是X射线荧光光谱分析的有效方法，能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析，也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知，X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响（基体吸收和增强效应），与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中，已经考虑到了基体效应，可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系，使用少数已知样品校正算法去除系统误差，即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景，提高信噪比，降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上，则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动，振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发，产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射，将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应，降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品，样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少，天瑞仪器设计出超短光路技术，确保轻元素检测结果的准确性，特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位，微区扫描分析，空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置，实现了小空间内的位置旋转切换，避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动，因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试，在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术，无需标样即可进行全元素分析，引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试，在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术，无需标样即可进行全元素分析，引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术，能有效的去除杂音信号干扰，最大限度降低元素检出限，
如图SUPER XRF 1050，对食品中Pb的测定 ，最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件，能够对80种元素进行精准分析，无标样定量分析，微区分析，薄膜分析，高级次谱线分析。
