CEMS-V100 烟气挥发性有机物(VOCs)在线监测系统是天瑞仪器研制的烟气中VOCs的在线监测设备,可测量总烃(THC)、甲烷(CH4)、非甲烷总烃(NMHC)、苯系物(BETX)等多种有机物。该系统可广泛应用于各种工业污染源VOCs排放监测,例如半导体、电子、医药、石化、化工、印刷、汽车、涂装、橡胶等多种工业,性能稳定可靠,集成化程度高。同时,针对各种不同工况条件及客户需求,天瑞可提供定制化解决方案,包括:防爆机柜式、全程高温伴热式、移动监测车等。
性能优势:
分析方法采用GC-FID法,符合国家标准方法HJ/T 38-1999和美国EPA标准;
可选配ECD、FPD、TCD等多种检测器,以满足不同灵敏度和检出物的需求;
系统具有高检测灵敏度,可自动进行高、低量程切换,各目标分析物具有独立的检出限;
标准分析时间为1分钟,可提供实时、连续监测数据;
自动化程度高,可自动进行管路清洁,仪器维护工作量小;
具备实时/定时系统诊断及故障报警功能;
内置校准模块,校准周期可设,可实现仪器自动质控;
FID检测器具有自动点火功能,火焰熄灭后自动关闭燃气系统,保证系统安全;
内置一体式工控机,高清彩色液晶触摸屏显示,系统软件采用分层模块化设计,操作界面简洁易于控制;
可实时显示系统各部件的运行状态,并对仪器参数进行设置,维护方便;
可查看实时/历史监测数据,自动存储数据及图谱,并提供多种报表格式以供选择;
具有RS232/485、RJ45、USB等多种数据传输方式,可实现实时数据通讯,并接入环保部门监控平台;
具有操作权限限制及密码管控功能,防止操作失误或越权操作;
可依据客户需求提供定制化解决方案,包括防爆机柜式、全程高温伴热式和移动监测车式
技术参数:
检测原理
检测对象 GC-FID(另可选配ECD、FPD或TCD检测器)
THC、CH4、NMHC、BETX等
检测范围 0-50/500/5000ppm(以甲烷作基准,量程可调)
0-5/30/50%(量程可调)
准确度 ±1 % F.S. or 0.1 ppm
检出限 0.05 ppm(量程0-50 ppm)
重负性 ±1 % F.S. or 0.1 ppm
零点漂移 ±1 % F.S. or 0.1 ppm
量程漂移 ±1 % F.S. or 0.1 ppm
分析时间 1min(标准)
样品流速 - 分析用样品:600 mL/min
- 样品更新速率:3 - 10 L/min. max.
校正周期 每月或每年(用户可自行设定)
输出 Modbus TCP或4-20mA / RS232 / RS485
环境条件
气源 - 操作温度: 0-45℃, <90% RH(无凝结)
- 储放温度:-20-60℃, <90% RH(无凝结)
甲烷、氢气、氮气和零级空气
电源
尺寸 220V AC , 50/60 Hz, 1500 W
19’’标准机柜
应用领域:
●炼油与石化行业 ●医药制造 ●印刷与包装印刷
●电子半导体行业 ●橡胶/塑料制品 ●家具制造
●线路板 ●涂料与油墨 ●表面涂装
●第三方公证检测行业 ●汽车制造与维修 ●黑色冶金
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江苏天瑞仪器股份有限公司
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天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。