CEMS-X100是天瑞仪器20多年X射线荧光(XRF)研发制造经验的结晶。仪器结合烟气颗粒物稀释采样技术和等速采样技术,将烟气中水分和温度降至一定温度后,颗粒物自动富集在卷状滤膜上,采用高度集成专利探测器和X射线荧光数字多道分析技术检测重金属颗粒物在X射线激发下产生的X荧光强度,通过信号强度和体积换算精确计算烟气颗粒物中重金属的浓度。实现烟气中铅、汞、镉、铬、砷等几十种重金属含量和总排量的自动连续监测。
应用领域
废物焚烧炉、金属冶炼厂、电池制造业、工业炉窑、燃煤电厂、水泥窑
性能优势
1.可以同时测量多达二十多种重金属元素,测量元素可定制;
2.一般情况下,每15分钟即可得到分析结果;
3.非破坏性无损检测技术,允许样本存档,以备后续的实验室质控分析;
4.自动质量控制,具备内标元素可自动检查系统长期稳定性;
5.专业的防辐射处理,做到全方位防护;
6.与参比方法相比具有较高的检测精度;
7.无人值守,操作简便,维护简单,除过滤带外基本无其它日常耗材。
技术指标
可同时监测铅、铜、镉、铬、锌、镍等二十多种重金属元素;自动换算累积排放量
测量范围:0~5000ug/m3
检出限:≤0.1ug/m3
线性度:≥0.99
气体介质条件:温度-20~600℃ 压力-20~50kPa 流速0~30m/s
采样及分析时间:5~120分钟可设定
自动质控:每个样品自动质控
工作环境条件:温度温度-20~50℃ 湿度0~90%RH
通讯接口:RS232/RS485/RJ45,可配置GPRS模块
电源:220V AC±10%(50±1Hz),2500W
可选配套设备:恒温分析小屋
系统配置
一次采样系统
高温高湿等动力采样探头、一次采样系统防腐管路、一次采样系统伴热装置、高温型气体吸取装置、一次采样系统流量检测控制单元
二次采样系统
等动力二次取样伴热装置、二次取样系统流量检测控制单元、高精度采样动力装置
滤膜取样系统
卷膜移动控制装置、取样滤膜自动伴热装置
分析系统
高精度XRF分析模块
控制系统
电控单元、一体式工控机、CEMS-X100烟气重金属在线监测系统软件
校准样品
指定测量元素的校准膜片
烟气温压流监测系统
微差压变送器、静压传感器、热电阻(或热电偶)、皮托管、反吹电磁阀、温度压力补偿等
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江苏天瑞仪器股份有限公司
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天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。