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7月19日,江苏省企业知识产权战略推进计划重点项目(苏州)示范现场会在昆山召开。会议由江苏省知识产权局主办,苏州市知识产权局、昆山市知识产权局、江苏天瑞仪器股份有限公司等承办。苏州市知识产权局有关领导和部分县市知识产权局相关负责人、知识产权中介机构负责人、高端装备制造领域企业的高层管理人员和知识产权主管人员、昆山市企业知识产权管理人员等160余人参加会议。
会议现场
本次示范现场会为期一天。会上,昆山市科技局副局长陈岚表示,自该项目启动以来,对推进知识产权强省建设起到了重要的促进作用。通过几年的实施,企业的知识产权意识得到迅速增强,涌现出一批具备知识产权战略管理理念、知识产权创造运用保护和管理能力全面发展、知识产权综合竞争优势突出、具有行业影响力和地区辐射作用的知名企业。天瑞仪器便是其中的佼佼者。
昆山市科技局副局长陈岚发言
作为重点项目承担单位,天瑞仪器知识产权总监周晓辉在会上作了关于“专利布局、专利质量在专利维权过程中的重要性”的经验分享,周总监介绍了天瑞仪器近年来的知识产权成果,并通过实际案列阐述了实施知识产权战略中的维权方法与成效。
天瑞仪器知识产权总监分享经验
此外,与会嘉宾代表从知识产权分析评议与风险防范到信息化管理平台运用与侵权风险防范,再到海外专利的布局策略和运用方法,一一做了经验分享。国家专利局审查江苏中心审查业务部副主任危峰作了关于“高价值专利布局及运营”的介绍,知识产权服务专家杨林洁与王琦分别作了《科技人才型企业知识产权战略规划》与《全流程的专利组合评估方法及运用》的介绍。
嘉宾代表合影留念
此次示范现场会的成功举办,进一步增强了参会企业知识产权战略实施意识,促进了企业经营发展与知识产权战略的深度融合,获得了参会人员的一致好评。
作为高新技术企业,天瑞仪器一直十分重视知识产权战略的实施,切实建立起了知识产权制度,把知识产权贯穿于企业研发、生产、营销等各个环节,为加快知识产权强省建设、助推经济结构调整和产业转型升级做出了突出贡献。截止2016年年底,天瑞仪器及其子公司已获得授权专利215项,计算机软件著作权91项,软件产品证书58项。
天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。
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