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2016年7月28日,“2016天瑞仪器合作伙伴峰会” 在昆山皇冠国际会展酒店顺利召开。此次峰会为期两天,天瑞仪器董事长刘召贵博士、副总经理黎桥先生、以及来自全国各地的天瑞仪器合作伙伴参加了此次峰会。此次峰会以“合作共赢 共成长”为主题,旨在通过此次峰会加深天瑞仪器与合作伙伴的合作关系,增进了解、促进交流,共同发展。
黎桥副总经理开场致辞
28日上午9点,在天瑞仪器副总经理黎桥的热情开场下,本次合作伙伴峰会正式拉开了帷幕。随后,天瑞仪器董事长刘召贵博士致辞,刘博士首先对出席此次峰会的合作伙伴代表表示热烈欢迎, 对全国各地合作伙伴长期以来对公司的大力支持和辛勤努力表示衷心的感谢。希望通过此次峰会能够让更多合作伙伴全面深入的了解天瑞仪器,增进互信,与天瑞仪器一起实现合作共赢。刘博士以其幽默风趣的语言和充满激情的致辞赢得台下阵阵掌声。 (关键词:手持式光谱仪|手持式合金分析仪)
刘召贵博士的精彩致辞
此次峰会还特邀了天瑞仪器的多年合作伙伴,武汉天虹环保产业股份有限公司陆锦润副总经理及东莞市四通环境科技有限公司袁建洋总经理作为合作伙伴代表,在峰会上发表讲话。
武汉天虹环保产业股份有限公司陆总在发言中表示:国产仪器经过这些年的迅猛发展,在很多产品的技术上都不逊于进口仪器,国人的“外国的月亮比较圆”的思想需要改一改。天虹环保与天瑞仪器保持了多年的合作友谊,天瑞仪器在业内也良好的口碑和极高的品质保证。东莞市四通环境科技有限公司袁建洋总经理也在发言中表达了对天瑞仪器的肯定和共创未来的美好信心。
武汉天虹环保产业股份有限公司陆锦润副总经理
东莞市四通环境科技有限公司袁建洋总经理
下午,在刘召贵博士的带领下,携所有合作伙伴一同参观了天瑞仪器总公司。细致而又全面的向所有合作伙伴介绍了天瑞仪器包括展厅仪器,各部门介绍,产品生产、研发、监测等诸多领域。
刘博士为合作伙伴介绍天瑞仪器公司
刘博士在展厅内自豪的为大家介绍公司产品
第二天,天瑞仪器各个事业部总经理及天瑞环境刘祥虎博士为参会的合作伙伴们详细的介绍了天瑞仪器相关产品在各个领域内的应用情况,并开展了一对一的交流活动。
环保事业部总经理方军为大家做环保产品介绍
天瑞环境刘祥虎博士为大家做环境水处理工程介绍
光谱事业部总经理李胜辉为大家介绍光谱事业部产品
质谱事业部总经理周立为大家介绍质谱事业部产品
XRF事业部总经理吴敏为大家介绍XRF事业部应用领域及产品
“一对一”交流活动中合作伙伴提问
天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。
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