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“第十六届北京分析测试学术报告会暨展览会”（简称：BCEIA）于2015年10月27日在北京国家会议中心隆重开幕，本次大会由中华人民共和国科学技术部批准，中国分析测试协会主办。两年一度的BCEIA，是国内分析测试行业内知名度及专业度最高的盛会。
大会现场
开展第一天天瑞仪器就受到了行业专家、学者、同行及现场客户的高度关注。天瑞仪器董事长刘召贵博士、总经理应刚先生率公司团队亲临现场，与来访者进行交流互动。
天瑞仪器展台现场
董事长刘博士与来访客户现场交流
总经理应刚先生与来访进行现场交流
天瑞仪器质谱事业部总经理周立博士与客户现场交流
天瑞仪器光谱事业部总经理韦大纶与客户现场交流
本次展品亮点多多，天瑞仪器全面展示了近两年公司在新产品研发、产品升级、行业应用、解决方案制定等方面取得的丰硕成果。
天瑞质谱家族的新成员基质辅助激光解析-飞行时间质谱仪MALDI-TOF首次亮相展会，就成为了展台现场的关注焦点，作为中国首款具有完全自主产权的商品化基质辅助激光解析/离子源-飞行时间质谱仪，Micro TyperMS的诞生开启了国产生物质谱的新时代；历经3年市场磨砺，2015年全新推出的ICP-MS 2000E，拥有全新的碰撞反应池功能、新型离子源设计、高效准确的自动进样器、软件集成应用分析包，极大的提升了仪器整体性能指标和性价比；备受业界广泛认可的气相色谱质谱联用仪GC-MS 6800，在食品、纺织、RoHS、环境等多个领域的定制方案，更贴心的为客户提供专业的一站式解决方案；国产化的GC-TOFMS系列iTOF-1G、iTOF-2G，具有高分辨率、高灵敏度和高采集速度的卓越性能，实现了飞行时间质谱与快速气相色谱的完美对接；性能卓越、全新配备自动进样器的液相色谱质谱联用仪LC-MS1000；为粮食重金属检测量身打造的EDX 3200S plus C智能型食品重金属快速检测仪、电感耦合等离子体发射光谱仪ICP 3000、全新一代手持式X荧光光谱仪探索者EXPLORER，创新一体式设计的EHM-X200大气重金属分析仪等明星产品也都悉数登场。
天瑞仪器承担的 “国家重大科学仪器设备开发专项”的WDX 4000顺序式波长色散X荧光光谱仪也受邀来到“国家重大科学仪器设备开发专项阶段成果展”展示区参加展示。
天瑞工程师给客户介绍WDX4000
27日晚间，由江苏天瑞仪器股份有限公司和厦门质谱仪器仪表有限公司联合研发生产的基质辅助激光解析-飞行时间质谱仪MALDI-TOF喜获2015BCEIA金奖。
基质辅助激光解析-飞行时间质谱仪MALDI-TOF喜获2015BCEIA金奖
厦门质谱何坚教授给客户介绍基质辅助激光解析-飞行时间质谱仪MALDI-TOF
天瑞工程师指导客户现场操作EXPLORER
天瑞工作人员为客户介绍产品
天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心，分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成：院士1名，博士11名，高级工程师13名，硕士17名，知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生：清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准，享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业，从事分析仪器开发26年，主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究，并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关，获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等，并参与起草制定了多项国家标准行业标准，是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP（基本参数）算法是X射线荧光光谱分析的有效方法，能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析，也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知，X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响（基体吸收和增强效应），与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中，已经考虑到了基体效应，可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系，使用少数已知样品校正算法去除系统误差，即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景，提高信噪比，降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上，则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动，振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发，产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射，将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应，降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品，样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少，天瑞仪器设计出超短光路技术，确保轻元素检测结果的准确性，特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位，微区扫描分析，空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置，实现了小空间内的位置旋转切换，避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动，因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试，在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术，无需标样即可进行全元素分析，引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试，在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术，无需标样即可进行全元素分析，引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术，能有效的去除杂音信号干扰，最大限度降低元素检出限，
如图SUPER XRF 1050，对食品中Pb的测定 ，最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件，能够对80种元素进行精准分析，无标样定量分析，微区分析，薄膜分析，高级次谱线分析。
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