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4月9日,由工业和信息化部联合深圳市人民政府主办的2015第三届中国电子信息博览会在深圳会展中心举行。作为新一代信息技术产业的国家级展示平台,本次大会的展出面积达十万平方米,天瑞仪器携多款高端检测仪器亮相本次盛会。天瑞仪器作为知名的检测仪器厂商,一直致力于为广大电子电器行业用户提供更好的检测解决方案,确保为客户提供优质、放心的服务。展会将持续到4月11日,天瑞展位号1D200,欢迎各界朋友前来参观交流。
本次大会,天瑞仪器多款针对电子电器行业的分析仪器精彩亮相,致力于为客户提供更优质、更全面的解决方案。
准确的检测结果一直是天瑞坚持不懈的追求,EDX 9000正是秉承了这一理念。它不仅继承了天瑞仪器EDX系列准确、快速、无损、直观及环保的五大特点,采用分析仪器行业最先进的极速探测器技术,最快一秒出结果。同时EDX 9000还采用了天瑞仪器专利产品精密的定位系统,可实现图像联动控制,多点连续测试。新增加电动开发的样品腔使操作更加方便,全新设计自动样品平台让准确检测得到保证,是电子电器RoHS检测分析领域顶尖的产品。
Thick 8000镀层测厚仪是天瑞仪器专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。仪器全自动智能控制,一键式操作,可应用于电子电器行业中的金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定。
ICP-MS2000 是天瑞仪器自主研发,国内首台产业化电感耦合等离子体质谱仪。在电子电器行业中主要应用于半导体领域高纯金属、高纯试剂、Si晶片的超痕量杂质、光刻胶等的精确检测分析。
电子电器行业分析检测市场,天瑞仪器一直占据着霸主地位。早在2006年,天瑞仪器成功推出了RoHS检测仪,推出便引发市场抢购。同年9月,天瑞携多款XRF仪器参加德国消费类电子技术展,向全世界展示专利新产品,一举突破国际技术壁垒,获得全球分析仪器同行的瞩目。次年,天瑞仪器产品—EDX3600B成为国家质检总局及其下属机构应对RoHS、WEEE指令检测仪器的指定产品。多年以来,天瑞仪器电子电器行业相关检测分析产品久经市场考验。而近年来,天瑞仪器从客户角度出发,不断增加研发投入,对产品精益求精;产品线不断丰富,产品性能不断优化;产品的竞争优势更为明显。天瑞仪器作为知名检测仪器厂商,也将再接再厉为电子电器企业提供最好的检测设备。
天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。
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