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波长色散X荧光光谱仪WDXRF 首页 >> 产品分类 >> 波长色散X荧光光谱仪WDXRF

江苏天瑞仪器股份有限公司-天瑞仪器WDX4000

波长色散X荧光光谱仪WDXRF

天瑞仪器WDX4000

天瑞仪器顺序式波长色散x荧光光谱仪

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 天瑞仪器WDX4000  产品详细

产品说明、技术参数及配置

WDX-4000 是江苏天瑞仪器股份有限公司在多年同时式波长色散X射线荧光光谱仪的研发和产品化基础上,在国家重大科学仪器设备开发专项(项目编号:2011YQ170065)资金支持下,融合独有的科技创新和发明,推出的商业化顺序式波长色散X射线荧光光谱仪。WDX-4000通过了《JJG 810-1993波长色散X射线荧光光谱仪检定规程》的测试,能检测元素周期表上从Be-4到U-92的元素,可应用于地质、水泥、钢铁和环保等领域。WDX-4000采用大量通用化的设计,可以提供给客户最经济便捷的维护。

性能特点:

创新的测角仪设计
专利保护的创新型钢带传动系统,可以提供稳定、无回程间隙的旋转运动,以保证最高精度的角度定位要求;
θ/2θ两轴独立运动,并配合伺服电机和圆光栅构成闭环系统;
永磁式交流伺服电机提供业界顶级的高速平滑运动;
圆光栅测角重复性可达±0.0002度,精度达±0.0006度,足以保证优异的角度测量性能;

数字多道分析仪
12位,80M/s的模数转换采样率,是业界最高分辨率的信号采样系统,保证了信号采集的完整性
基于高速FPGA框架以及可靠的数字信号处理算法,4096道分析系统足以从噪声中筛选正确的X射线信号
大动态范围测量,有效减少了探测器增益调节次数

X射线光管和高压
标准的4kW大功率电源系统,支持高灵敏度的痕量检测以及更快的检验速度
50um/75um的铍窗厚度保证超高的X射线穿透率,尤其适合低能X射线穿过
高压电源电压和电流最高可达60kV和160mA,用户可根据实际需要灵活设置电压和电流参数
双通道水冷系统,电导率保持在1uS以下,以最大限度延长光管工作寿命其他
最多可支持10块晶体,可根据客户需求提供专门优化的人工多层膜晶体,以提升轻元素的检测能力
最薄可达0.3um的正比流气计数器窗膜,极大提升了轻元素的光通量

其他:
光谱室温度控制稳定性在±0.05C以内
晶体、准直器和滤光片都采用自动切换控制
软件
完整而丰富的软件功能
32位软件系统,优异的可操作性和人机交互界面
成熟的经验系数法配合标准样品提供准确可靠的检测数据
基本参数法可提供多样化的分析手段,可进行无标样的半定量和定量分析
集成的SQLite数据库用于保存实验数据,方便数据查询和管理

技术指标

进样系统
样品形式:固体
样品尺寸:最大51.5 mm  × 40 mm
样品重量:最重500g
进样系统:双进样系统,标备除尘过滤器和预抽真空系统;一个样品测量的同时给另一个样品预抽真空,互不干扰
自动进样机:自动机械手进样系统,最多可装168个样品
自旋装置:3种自旋速度(低、中、高)
X射线光管
铍窗:50um/75um超薄铍窗,用以保证X射线的高通过率
阳极靶材料:标配铑靶,可选铜靶、钼靶、钨靶,铬靶,铂靶等
工作模式:样品进样时保持工作状态不变
水冷系统:双路水循环系统,电导率保持在1uS以下
高压电源
输出方式:1kV和1mA的标准调节单位,通过12位DA进行精细调节
长时间稳定性:0.01%/8 hours
温度稳定性:50 ppm/C
(20 ppm/C可选).
数据
功率:4kW
KV/mA范围:电压20-60KV,电流10-140mA;最大电压75kV,最大电流160mA可选.
测角仪
工作模式:创新型钢带传动系统,无摩擦,无回程间隙,带有圆光栅反馈,θ/2θ两轴独立运动
最大转角速度:6000  2θ/min
测角精度:0.006° θ / 2θ
测角重复性:0.0002° θ / 2θ
步进角度:最小 0.0001°,最大1°
角度扫描范围:流气比例计数器:12° to 150°@2θ
闪烁计数器: 0° to 120°@2θ
光路
准直器面罩:单面罩,(其他尺寸27, 32 or 50mm可选)
主准直器:最多可装3个: 100, 150, 300, 550, 700 or 4000 um, 可选
主滤光片:最多4片: Pb,Al,Cu等元素可选
晶体:最多10个: LiF420,LiF220,LiF200,Ge111,PE002,InSb, TIAP,以及用于轻元素测量的各种人工多层膜晶体.
探测器:流气比例计数器 (FPC), 可配0.3um厚的窗膜
闪烁计数器 (SC)
光室真空度:<15Pa
信号处理
数字多道分析仪:12位,80M/s采样速度,4096道分析能力,采用FPGA框架以及可靠的DSP算法用于信号和噪声分离
最大计数率:流气比例计数器:2Mcps
闪烁计数器: 1.5Mcps
脉冲漂移和增益校正:自动
时间校正:自动


为什么选择天瑞仪器?

天瑞仪器WDX4000

    一、行业引领者:

    2011年深交所上市公司(代码:300165)
    分析仪器行业内首屈一指的引路者

    天瑞仪器作为国内化学分析行业的领航者,专业生产光谱仪、色谱仪、质谱仪为主的高端分析仪器。主要应用于环境保护与安全(电子、电气、玩具等各类消费品行业、食品安全、空气、土壤、水质污染检测等)、工业生产质量控制(冶金、建材、石油、化工、贵金属、医疗器械等)、矿产与资源(地质、采矿)、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等众多领域。 核心专利技术同行业中第一;销售量同行业中第一 ;产品种类同行业中第一 ;

天瑞仪器WDX4000

    二、标准的制定者:

    天瑞仪器参与起草和制定了18项国家标准、
    行业标准,自信于行业的话语权。

    GBT 28020-2011 饰品 有害元素的测定 X射线荧光光谱法
    GBT 31364-2015能量色散X射线荧光光谱仪主要性能测试方法
    GBT 33352-2016电子电气产品中限用物质筛选应用通则 x射线荧光光谱法
    GB/T 25934.1-2010高纯金化学分析方法 乙酸乙酯萃取分离ICP-AES光谱法 测定杂质元素的含量
    GB/T 27730-2011玩具产品中富马酸二甲酯含量的测定 气相色谱-质谱联用GC-MS法
    GB/T 28020-2011饰品 有害元素的测定 X射线荧光光谱法
    GBT 22788-2008玩具表面涂层中总铅含量的测定
    GB/T 30419-2013玩具材料中可迁移元素锑砷钡镉铬铅汞硒的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
    GB/T 31364-2015能量色散X射线荧光光谱仪主要性能测试方法
    JBT 12962.1-2016能量色散X射线荧光光谱仪第1部分:通用技术
    JBT 12962.2-2016能量色散X射线荧光光谱仪第2部分:元素分析仪
    JBT 12962.3-2016能量色散X射线荧光光谱仪第3部分:镀层厚度分析仪
    LS_T 6115-2016.4672 LST6115-2016《粮油检验 稻谷中镉含量快速测定X射线荧光光谱法》标准
    (未完待续……)

天瑞仪器WDX4000

    三、技术开创者:

    252项实用专利,填补国内空白,打破进口垄断中前行

    截至2017年末,天瑞仪器公司及其子公司已获得国家知识产权局授权专利252项,
    《计算机软件著作权登记证书》91项;
    其中发明专利115项,
    实用新型专利80项,
    外观专利57项。

天瑞仪器WDX4000

    四、服务践行者:

    天瑞仪器不忘初心,与客户同命运,共成长。

    天瑞仪器的客户有:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家博物馆、
    中国国家地质实验测试中心、中国地质科学院、中国科学院长春光机所、中国泰尔实验室、
    等政府部门和知名检测机构,
    以及中石油、中石化、华为、海尔、创维、方太、美菱、光宝、TCL、LG、美的、三星、华测(CTI)、中航电测等。

研发实力:

天瑞仪器WDX4000

    天瑞分析测试仪器研究院

    天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。

天瑞仪器WDX4000

    刘召贵博士,国务院特殊津贴专家

    刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。

天瑞仪器WDX4000

    姚栋梁博士,X射线荧光光谱领域专家

    姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。

八大技术优势:

天瑞仪器WDX4000

    一、FP基本参数法

    FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。

天瑞仪器WDX4000

    二、偏振二次靶激发技术

    偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。

天瑞仪器WDX4000

    三、超短光路设计

    由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。

天瑞仪器WDX4000

    四、精密机械设计

    真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。

天瑞仪器WDX4000

    五、无标样技术

    XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。

天瑞仪器WDX4000

    六、二次靶激发技术

    XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。

天瑞仪器WDX4000

    七、信噪比增强技术

    天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
    如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。

天瑞仪器WDX4000

    八、XRF核心技术(智能分析软件)

    天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。

荣誉证书

国家火炬计划重点高新技术企业、重合同守信用企业认证、计量保证确认证书、国家高技术研究发展计划(863计划):

国家火炬计划重点高新技术企业、重合同守信用企业认证、计量保证确认证书、国家高技术研究发展计划(863计划)-江苏天瑞仪器股份有限公司

ISO9001:2008质量管理体系认证、ISO14001环境管理体系证书、OHSAS 18001 职业健康安全管理健康体系 、信息安全管理体系认证:

ISO9001:2008质量管理体系认证、ISO14001环境管理体系证书、OHSAS 18001 职业健康安全管理健康体系 、信息安全管理体系认证-江苏天瑞仪器股份有限公司

实用专利证书:

实用专利证书-江苏天瑞仪器股份有限公司

标准制定:

江苏天瑞仪器股份有限公司标准制定

软件著作权证书:

软件著作权证书-江苏天瑞仪器股份有限公司

其他证书:

Honor企业荣耀-江苏天瑞仪器股份有限公司
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