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5月8日,天瑞仪器首届星级工程师颁奖典礼隆重举行,天瑞仪器董事长刘召贵博士,总经理应刚先生出席了本次颁奖典礼。颁奖典礼由副总经理余正东先生主持,天瑞仪器各部门负责人及技术部工程师参加了本次颁奖典礼。
会上,天瑞仪器副总经理余正东先生对本次星级工程师颁奖典礼做开幕致辞,指出本次星级工程师评定,既是对多年来天瑞优秀服务工程师工作的肯定,同时也为天瑞所有技术工程师树立了一个学习的标杆,从星级技术工程师的分享中学习技术服务经验。用一颗服务的心,将天瑞仪器的技术服务做得更好!
天瑞仪器副总经理余正东先生主持会议
技术服务,将天瑞与客户紧紧相连,而技术工程师们就是这座连接的桥梁。他们不仅要有扎实的技术功底,还要有娴熟的沟通技巧。他们不怕苦、不怕累,只要客户有需求,总在第一时间出现,为客户排忧解难。他们始终追求的都是为客户提供最优质的服务,在工作中不断总结工作方法和经验,提高技术能力,不拖延,不推诿,力求做到尽善尽美。他们对技术苛求、对服务热忱,他们就是天瑞最闪亮的明星。
天瑞仪器总经理应刚先生为四星工程师代表颁奖
天瑞仪器董事长刘召贵博士为五星工程师颁奖
天瑞仪器董事长刘召贵博士,在会上分享了早期技术服务工作的经历并指出,技术工作者在提供技术服务过程中首先要树立服务意识,用服务意识感动客户,提升天瑞的品牌形象。
天瑞仪器董事长刘召贵博士正在发表讲话
天瑞仪器总经理应刚先生指出,技术工程师们要不断升级自己的技术知识,用服务意识感动客户的同时,用技术去征服客户。
天瑞仪器总经理应刚先生正在发表讲话
随后,天瑞仪器技术部负责人廖国荣先生分享了“变态”服务理念。廖部长提出,在工程师们服务过程中要不断升级自己的服务意识,将服务做到更细节、更极致。同时廖部长也指出,要将天瑞的服务建设制度化、专业化、个性化、人性化。不仅要给客户提供专业便捷的服务,同时根据客户的要求,定制服务,做到个性化服务,最大限度满足客户要求。
天瑞仪器技术部部长廖国荣正在做报告
目前,天瑞仪器拥有完善的技术网点,可为客户提供完美的解决方案和个性化、人性化的服务。大会结束之际,董事长刘召贵博士提出要将服务理念“量化”,征求“变态服务”好想法,力求将技术服务做到最好。
天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。
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