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2015年4月22日,中国科学仪器行业的“达沃斯论坛”——2015 (第九届)中国科学仪器发展年会(ACCSI 2015)在北京京仪大酒店召开,会议主题为“创新创造价值”。天瑞仪器参加了本次大会,并在仪器风云榜颁奖盛典上荣获2014科学仪器行业最具影响力厂商、HM-X200大气重金属在线分析仪获2014科学仪器行业优秀新产品、天瑞仪器EDX P730手持式X荧光光谱仪获2014科学仪器行业最受关注仪器,三项大奖。天瑞仪器董事长刘召贵博士出席了本次大会。
大会现场
企业高峰论坛
天瑞仪器董事长刘召贵博士与其他5位国内外知名科学仪器企业的高层做客“企业高峰论坛”,分别就“步入‘新常态’的中国经济大环境将如何影响科学仪器市场?”、“为了应对当下我国乃至全球经济发展中出现的新情况,业内标杆厂商正在或将要采取哪些新对策?”、“‘移动互联网’、‘大数据’、‘云计算’等新技术的出现能否为科学仪器产业未来的运营模式带来改变?”等议题进行了探讨,给与会者带来了更多对中国科学仪器行业前景的启示。
天瑞仪器董事长刘召贵博士在企业高峰论坛现场
仪器风云榜颁奖盛典:天瑞仪器收获三项大奖
4月22日晚间,仪器风云榜颁奖盛典如期而至。在本次盛典上,天瑞仪器分别荣获三项大奖。
天瑞仪器获2014科学仪器行业最具影响力厂商奖,天瑞仪器作为国产仪器的代表厂商,20多年来一直致力于将性价比更高的仪器、技术、服务带给广大消费者。天瑞仪器,也将继续努力,发挥自己的业界影响力,让更多人体会到国产仪器的魅力。
天瑞仪器获2014科学仪器行业最具影响力厂商颁奖现场
HM-X200大气重金属在线分析仪荣获2014科学仪器行业优秀新产品大奖,EHM-X200创新地将天瑞仪器专利技术—X荧光(XRF)无损检测技术、β射线吸收检测技术与空气颗粒物自动富集技术完美结合。不仅可以检测空气颗粒物中重金属的成分和浓度,还可以同时检测颗粒物的质量浓度。该仪器具有pg/m3 量级的检出限,处于世界先进水平,被广泛应用于空气质量监测、污染溯源及源解析、环境评价等领域。
HM-X200大气重金属在线分析仪荣获2014科学仪器行业优秀新产品大奖
天瑞仪器EDX P730手持式X荧光光谱仪获2014科学仪器行业最受关注仪器奖,EDX P730手持式X荧光光谱仪是天瑞仪器比较经典的手持式X荧光光谱仪。目前天瑞仪器的手持式x荧光光谱仪从Pocket、Genius、到Explorer已经经过多代发展,是天瑞仪器仪器集成化、小型化、智能化的代表产品。特别是最新手持X荧光光谱仪EXPLORER系列,产品引入了数字多道技术,检出限更低,稳定性更高,适用面更广,性能媲美台式机;小巧便携的体积使检测工作更简单、更轻松。
天瑞仪器EDX P730手持式X荧光光谱仪获2014科学仪器行业最受关注仪器奖
天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。
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