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近年来,精密测量技术发展迅速,成果喜人。例如在线测量技术,已可进行加工状态的实时测量与显示,及时检测加工是否出现异常状况,从而可大幅度提高生产效率。
在高精度加工和质量管理过程中,随着光机电一体化、系统化的发展,光学测量技术有了迅速发展,相应的测量机产品大量涌现,测量软件的开发也日益受到重视。
近年来,利用光学原理开发的非接触测量机及各种装置非常多。如MARPOSS公司的非接触式工具测量系统MidaLaser就是采用激光测头的新型测量机,该机可在CNC机床保持运转的情况下自动对所有工具进行非接触测量,并可根据测得值对工具进行自动定位。索尼精密工程公司的非接触形状测量机YP20/21也是利用半导体激光高速高精密自动聚焦传感器的形状测量机,所有刻度尺均系标准元件,传感器和载物台均由微型计算机控制,具有优异的操作性能和数据处理功能。YKT公司销售的非接触三坐标测量系统Zip250是一种高刚性、高速、高精密的新型测量机。该机载物台的承载量为25kg,刻度尺的分辨力(X、Y、Z轴)均为0.25μm。机上装配了带数码法兰盘的CCD摄像机和最新DSP处理器,因此可进行高速图像处理测量,同时也可与接触式测头并用进行相关测量。
随着非接触、高效率测量机的大量出现,专家预计,21世纪测量技术的发展方向大致如下:
(1)测量精度由微米级向纳米级发展,测量分辨力进一步提高;
(2)由点测量向面测量过渡(即由长度的精密测量扩展至形状的精密测量),提高整体测量精度;
(3)随着图像处理等新技术的应用,遥感技术在精密测量工程中将得到推广和普及;
(4)随着标准化体制的确立和测量不确定度的数值化,将有效提高测量的可靠性。
总之,测量技术必须实现高精度化,同时也要求实现高速化和高效率化,因此,非接触测量和高效率测量也必然成为新世纪精密测量技术的重要发展方向
天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。
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