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8月10日,湖南省粮食快速检测仪器接收验收工作会议在湖南省长沙市湖南粮食集团有限责任公司顺利召开。来自湖南省各市州粮食局(商务和粮食局)行业发展科科长、质监站站长、湖南粮食集团、天下洞庭、军粮集团等有关企业分管负责人、省粮油产品质量监测中心相关人员、省局行业发展处相关人员及天瑞仪器副总经理肖廷良、副总经理黎桥等相关工作人员共同出席了此次会议。
此次的验收工作是针对“湖南省粮食局粮食重金属检测设备(第二批)采购项目”长沙地区的交付验收。会议由湖南省粮食局行业发展处副处长胡银利主持。湖南省粮食局行业发展处处长覃世民部署快速检测仪器接收验收工作。会上覃处长指示各市州要规范仪器的验收工作,严格标准,确保每一台仪器稳定可靠,合理使用每一台仪器,使仪器发挥最大价值,做好仪器分配、入账、使用、资产管理等工作。同时要加倍珍惜此次粮食快速检测仪器项目的来之不易,尽最大努力发挥好仪器的应有作用,承担起保障粮食安全的把关作用,不辜负党和人民的信任。
湖南省粮食局行业发展处处长覃世民部署快速检测仪器接收验收工作
天瑞仪器副总经理肖廷良代表供货方承诺发言。天瑞仪器公司承诺积极配合粮食快速检测仪器的各项验收工作,实现高效、规范验收。确保交付的每一台仪器性能稳定可靠,满足各市州粮食局、粮油产品质量监测中心的检测使用。为了更好的服务湖南地区的粮油检测系统,天瑞仪器目前也已经在湖南专门设立粮油检测技术服务办事处,确保所有售后问题都能够得到及时解决。
天瑞仪器副总经理肖廷良承诺发言
为了使用户更好的提升仪器的使用效率,天瑞仪器XRF事业部总经理吴敏为参加此次验收工作会议的嘉宾领导现场讲解X射线快速检测仪器管理要点的报告。报告中对粮食快速检测仪器的技术原理,产品结构,性能优势,保养维护等方面做了全面的介绍。
天瑞仪器XRF事业部总经理吴敏作《X射线快速检测仪器管理要点》报告
会后,湖南省长沙市地区的仪器验收工作正式开始,通过对现场每一台仪器的准确性、重复性、稳定性、台间差数等相关指标工作的测试验证,确保每一台仪器性能得到用户的现场检验,满足使用需求。测试验证工作得到现场用户的一致认可,交付验收圆满完成。
此次长沙市接收验收工作的圆满结束也正是湖南省其地区验收工作的开始。天瑞仪器将继续秉承客户第一的原则,积极配合验收工作的开展,尽快完成全部交付验收。早日让仪器在粮食检验中发挥监督把关的作用。
测试验收现场
天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。
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