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2015年6月9日,由环保部、国家发改委、科技部、工信部、住建部和北京市人民政府联合举办,中国环境保护产业协会承办的第十四届中国国际环保展览会(CIEPEC 2015)于北京中国国际展览中心正式拉开帷幕。本次展会将持续到6月12日,天瑞展位号1馆 B708,欢迎各界朋友前来参观交流。
两年一届的国际环保展会,为推动中外环保技术交流与合作,促进中国环保产业发展发挥了重要作用。今年的第十四届展会以“新常态·新机遇”为主题,聚焦环境保护中心工作和重点任务,汇集了大气污染防治、水污染防治、固体废物处理处置、重金属与土壤修复、环境监测、环境服务、环境友好,以及资源综合利用等领域的顶尖解决方案、前沿设备、创新工艺,可望为新修订的《环境保护法》、“大气十条”、“水十条”等的实施,提供坚实的技术支撑和物质保障。
展会现场
天瑞工程师向客户介绍天瑞便携式产品
海外客户正在了解天瑞仪器的大气重金属在线分析仪
天瑞仪器一直致力于为客户提供最优的环保解决方案,针对大气、水质、土壤等环保问题,本次展会多款最新高端产品精彩亮相。
天瑞仪器守护大气安全
EHM-X200大气重金属在线分析仪创新地将X荧光(XRF)无损检测技术、β射线吸收检测技术与空气颗粒物自动富集技术完美结合。不仅可以检测大气PM2.5,还可以同时检测空气颗粒物中重金属的成分和浓度,让检测工作更加方便。同时,在面对工业烟气监测方面,天瑞仪器研发的GALAS 6激光在线气体分析仪采用半导体激光吸收光谱技术测量气体吸收强度,仪器不受H2O、CO2及粉尘的影响,测量更准确,分辨率更高,寿命更长,已广泛应用于各个工业类型的烟气监测和检测中。
天瑞仪器保障饮水健康
WAOL3000-HM地表(地下)水质重金属在线分析仪能实时监测水样中多种重金属含量,其检出限低、准确度高、操作方便,维护成本低,可广泛应用于地表水、自来水、地下水、河流湖泊以及海水、工业生产废水等领域,亦可通过仪器自带的消解器对水样预处理,可以很好排除有机物干扰,提高仪器的准确性和可靠性。在应急水污染检测方面,天瑞的 HM-5000P多功能便携式重金属分析仪凭借着便携、快速、抗干扰性强的特点得到了市场极佳的认可。
天瑞仪器助力土壤修复
天瑞手持式X荧光分析仪历经多年发展。全新一代EXPLORER 9000手持式XRF土壤重金属分析仪可对污染土壤中的汞、镉、铅、砷、铜、锌、镍、钴、钒、铬、锰等重金属元素进行有效检测,还可根据客户需求定制增加检测元素。内置GPS功能,在野外可随时搜索卫星信号,确定取样点的地理位置信息,快速普查超大范围的土壤地质污染区,建立污染地图,实时监控各区域的污染情况。还能快速、现场追踪污染异常,有效寻找“污点”地带,圈定污染区域边界,并进行实时勘察。还可对污染地带进行等级划分,圈定重点土壤污染区,按照划分好的区域进行重点优选治理,提高筛查效率,并实时监控污染区的土壤修复情况。
天瑞仪器经过20多年发展,已经拥有了完整的环保产业线,研发和生产了丰富的环保监测、检测仪器。从光谱到质谱;从手持便携产品到实验室高端精密仪器;从土壤重金属检测、水质检测到大气检测;天瑞仪器立体监测环境安全,可以满足大部分的环保检测需求。另外天瑞仪器通过并购,将业务切入到环保治理和环保营运领域,拓展了在环保领域的经营范围,延伸了公司的产业链。“十三五规划”,气水土三大环境保护战役即将打响,天瑞仪器也将紧抓这个环保产业大发展的新机遇,做大做强环保品牌。
天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。
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