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6月22日,天瑞仪器与磐合科仪联合主办的“全国第三方检测机构食品环境高峰论坛”在昆山顺利召开。国家环境分析测试中心持久性有机污染物研究室主任董亮;上海市环境监测中心站吴诗剑;国家有机食品检测中心主任徐德宁;浙江省分析测试协会理事长莫卫民;江苏省科学仪器设备协会副理事长、省分析测试协会副秘书长刘正铭;浙江省分析测试协会常务副秘书长郭伟强;苏州大学分析测试中心主任姚志刚;南通大学分析测试中心主任石健以及来自全国多家食品、环境监测机构的一百多名代表出席了本次会议。
会议现场
近年来,检验检测行业得到了快速发展,其中第三方检测由于其独立性、公正性更是获得了广泛的应用。细分市场方面,环境监测、食品检测所占比重持续上升。伴随着环境监测和食品安全相关政策法规的推出,相关第三方检测机构面临着更大的机遇和挑战。天瑞仪器和磐合科仪联合举办本次论坛,旨在解读和探讨相关政策,重点介绍第三方检测热点的食品及环境检测技术及设备,为广大第三方检测人士提供一个高端、专业的交流平台。
天瑞仪器总经理应刚致辞
国家环境分析测试中心持久性有机物污染物研究室主任董亮与上海市环境检测中心博士吴诗剑分别带来了题为《土壤中典型有机污染物的分析方法》与《在线GCTOF在移动车上的应用》的主题报告。
报告人:国家环境分析测试中心持久性有机污染物研究室主任 董亮
报告题目:土壤中典型有机污染物的分析方法
董亮博士从有机污染物的分类、方法标准以及相应的测定方法等方面对土壤中典型有机污染物的分析方法进行了概述,并以多环芳烃(PAHs)为例,着重介绍了土壤中SVOCs的测定方法和流程。质谱的通用性和高灵敏度在有机污染物的定性和定量分析中发挥着重要的作用,可以说,当前环境检测中有机污染物分析基本上进入了质谱分析时代。
报告人:上海市环境监测中心 吴诗剑
报告题目:在线GCTOF在移动车上的应用
吴诗剑博士为参会代表们介绍了移动实验室基础建设与在线色谱-质谱联用仪(GC-TOFMS)及其应用。根据2015年上海市环境监测中心招标项目,宝钢环境监测站筹建了一辆移动式质控质保实验室,该移动实验室具有点位布设灵活,可实时跟踪和分析环境中VOCs、SO2和H2S等大气特征污染物等优势。
报告人:天瑞仪器光谱事业部 耿广善
报告题目:天瑞仪器光谱事业部产品介绍及在环保行业中的应用
耿广善的报告介绍了天瑞ICP、AAS、AFS系列产品的性能特点和环保行业中地表水检测和土壤中重金属检测的应用方案。
报告人:天瑞仪器质谱事业部 周立
报告题目:质谱和色谱技术在环境水质、大气和土壤监测中的应用
周立博士的报告介绍了天瑞质谱系列产品的原理、特点及应用。报告指出利用ICP-MS测试实际土壤样品时,应考虑样品均匀性问题,根据元素灵敏度和干扰程度选择合适的同位素,选用适当的碰撞反应条件,以获得更好的测试结果。
报告人:天瑞仪器XRF事业部 姚栋樑
报告题目:X射线荧光光谱仪(XRF)在第三方检测中的应用
姚栋樑博士报告称, X荧光技术相比于化学滴定比色法和有损分析光谱法,具有快速、无损、精准、直观和环保五大优势。报告介绍了天瑞仪器Cube100便携式能量色散X荧光光谱仪和EDX3000PLUS X荧光贵金属检测仪在贵金属检测中的应用,以及X荧光光谱仪在ROHS有害元素检测和镀层检测中的应用。
报告人:上海磐合科学仪器股份有限公司总经理 王宏
报告题目:第三方检测应对环办监测函2017(2024)要求的最佳方案
王宏在报告中介绍了电子制冷苏玛罐大气预浓缩系统。该解决方案的核心在于可采用苏玛罐、气袋或者吸附罐采样;采样后的苏玛罐、气袋或者吸附管会送到实验室;用一个规定的采样量把苏玛罐中的空气通过一个脱水装置转移到一个多吸附剂冷阱中;空气样品在通过聚焦冷阱转移到GC柱上。
与会代表参观天瑞仪器
会议期间,参会代表们参观考察了天瑞仪器总部。通过参观,大家对天瑞仪器的发展历程、产品特点和企业文化有了更为深入的了解。正如天瑞仪器总经理应刚先生在会议致辞中所言,作为一家20多年专注分析仪器研发与制造的国产分析仪器厂商,天瑞仪器的梦想是将中国的分析仪器走向世界,创造中国的分析仪器巨型航母。而受制于发展历史短、品牌影响力不够等因素,中国分析仪器的发展与欧美国家相比还有很长的道路要走。天瑞仪器希望能和广大用户携手合作,共同打造我国自由的良好的分析仪器生态大环境。
天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。
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