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6月9日,由中国环境保护产业协会主办,生态环境部、北京市人民政府、联合国环境规划署等共同支持的第十六届中国国际环保展览会(CIEPEC 2018)在北京圆满落幕,本届展会以“创新驱动发展,科技改善环境”为主题,共吸引了来自全球20多个国家和地区的近700家环保企业参展。天瑞仪器携子公司上海磐合科学仪器股份有限公司亮相展会,展现天瑞环保解决方案。
展会期间,天瑞仪器与子公司磐合科仪现场展示了天瑞在便携式检测仪器、在线监测仪器、实验室仪器以及实验室前处理仪器等四个方面的技术与实力,展出了手持式X荧光分析仪EXPLORER 9000、烟气挥发性有机物在线监测系统CEMS V100、单道扫描电感耦合等离子发射光谱仪ICP2060T 、气相色谱质谱联用仪GC MS 6800以及全自动苏玛罐热脱附预浓缩系统等十余款环保产品与解决方案。
手持式X荧光分析仪EXPLORER 9000可对污染土壤中的汞、镉、铅、砷、铜、锌、镍、钴、钒、铬、锰等重金属元素进行有效检测,仪器体积小、重量轻,可随身携带进行测量;烟气挥发性有机物在线监测系统CEMS-V100 是天瑞仪器研制的烟气中VOCs的在线监测设备,可测量总烃(THC)、甲烷(CH4)、非甲烷总烃(NMHC)、苯系物(BETX)等多种有机物;电感耦合等离子体发射光谱仪ICP-3000可用于测定不同物质(可溶解于盐酸、硝酸、氢氟酸等)中的微量、痕量元素含量,已经广泛应用于环保、稀土、化工、生物样品、刑事科学、农业研究等各个领域,备受好评。
这些产品与解决方案涉及土壤、水质、大气等多个领域,可广泛应用于涂装、钢铁、冶金、化工、皮革、纺织、制药、医疗等多个行业,吸引了现场新老客户的驻足。天瑞技术工程师热情接待了各位参观者,向大家介绍了仪器基本信息,演示仪器操作方法,并与大家沟通交流环保技术。
天瑞仪器近年来以“让地球重现蓝天碧水环境,让人类永享田园牧歌生活”为愿景,积极加强公司环保技术提升与环保产品的研发升级,凭借天瑞技术承担起身为国产分析仪器领航者的环保责任,为促进社会经济绿色低碳发展做出了应有的贡献。今后,天瑞将继续以企业愿景为宗旨,不断加强技术创新,为蓝天碧水再接再厉。
天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。
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