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为进一步提高相关工作人员对粮食重金属快速检测仪器的使用效率,提升粮食检测技术能力,5月16日——5月18日,天瑞仪器在江苏昆山举办粮食重金属快速检测仪技术培训会。来自全国20多个省、市及地区的中储粮集团各分(子)公司仓储管理处、质监中心相关人员应邀参加,学习仪器操作使用方法,了解仪器基本运作原理。培训会分为理论学习与实际操作两部分。
理论培训会上,天瑞仪器刘召贵博士现场致欢迎辞,对培训班学员的到来表示衷心的欢迎。天瑞仪器副总经理黎桥从研发基础与能力、品质管理与服务等方面为学员们系统作了公司介绍。天瑞仪器XRF事业部负责人与粮食行业技术工程师分别作了关于“粮食重金属快速检测仪的使用与维护”与“天瑞仪器食品安全检测整体解决方案”的报告,进一步加深了各位学员对粮食安全检测的系统了解,提升了大家对粮食重金属快速检测仪的宏观认知。
刘博士致欢迎辞
黎桥副总经理作公司介绍
XRF事业部负责人介绍粮食重金属快速检测仪的使用与维护
粮食行业技术工程师食品安全检测整体解决方案
实际操作中,学员们分组作业,在天瑞技术工程师的指导下,现场操作EDX 3200S PLUS-C粮食重金属快速检测仪。操作过程中,大家对检测过程中的疑问进行现场交流讨论,工程师们一一作答。通过实际操作,大家进一步熟悉了仪器的操作流程,加深了对仪器软件及硬件各方面的认知。
学员们进行实际操作
学员们认真研讨
我国是世界上最大的粮食生产、储藏及消费大国,粮食安全工作关乎我国13亿多人的身体健康和生命安全。天瑞仪器一直十分重视粮食安全检测技术的研究,为粮食系统提供农田环境、现场收购、运输储藏以及加工流通环节中的重金属、农药残留等检测解决方案。本次技术培训会旨在提升粮食仓储、质检人员的理论与实际操作水平,为粮食系统的安全管控提供有力保障。
天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。
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