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又是一年金秋时节，由中国分析测试协会主办的北京分析测试学术报告会暨展览会(简称“BCEIA”)将于10月9日——13日在北京国家会议中心盛大召开，而你们的老朋友——天瑞仪器也将如期和大家见面，展位号为32067-32074。
▲天瑞仪器展位效果图
这一次，天瑞仪器将展出EXPLORER9000手持式土壤重金属分析仪、Cube 100便携式测金仪、EDX3200SPLUS-X 食品重金属快速检测仪、ICP-3200S全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪 、GC-MS 6800S气相色谱质谱联用仪、ICP-MS 2000E电感耦合等离子体质谱仪、TIC-600能量色散X荧光光谱仪、BIO 3000水质毒性分析仪以及HM-5000P便携式重金属分析仪等人气产品。展出仪器适用于环境保护、食品安全、实验室检测、珠宝首饰以及电子电器等多个领域。
届时，天瑞仪器全新气相色谱质谱联用仪GC-MS 6800 Premium也将首次公开亮相。该产品汇集了天瑞仪器质谱事业部多年质谱仪研发经验，在原有GC-MS系列质谱仪基础上，突破技术难点，大幅度增强仪器性能，提高仪器检测效率。该仪器创新性地使用了Cleanquad洁净预四极杆技术，降低了非质量选择离子的干扰，显著提高了质谱信号信噪比；全新设计的高速数据采集卡配合优化后的射频电源，使质谱扫描速度和质量范围得到进一步提升。GC-MS 6800 Premium还有哪些精彩亮点？欢迎您亲临现场，了解详情。
▲气相色谱质谱联用仪GC-MS 6800 Premium
展会现场，天瑞仪器技术人员将为您提供专业的技术支持与优质的贴心服务，欢迎前往32067-32074展台参观咨询。更有精彩活动与精美礼品等着你，我们期待您的参与。
天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心，分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成：院士1名，博士11名，高级工程师13名，硕士17名，知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生：清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准，享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业，从事分析仪器开发26年，主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究，并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关，获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等，并参与起草制定了多项国家标准行业标准，是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP（基本参数）算法是X射线荧光光谱分析的有效方法，能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析，也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知，X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响（基体吸收和增强效应），与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中，已经考虑到了基体效应，可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系，使用少数已知样品校正算法去除系统误差，即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景，提高信噪比，降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上，则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动，振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发，产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射，将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应，降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品，样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少，天瑞仪器设计出超短光路技术，确保轻元素检测结果的准确性，特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位，微区扫描分析，空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置，实现了小空间内的位置旋转切换，避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动，因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试，在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术，无需标样即可进行全元素分析，引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试，在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术，无需标样即可进行全元素分析，引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术，能有效的去除杂音信号干扰，最大限度降低元素检出限，
如图SUPER XRF 1050，对食品中Pb的测定 ，最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件，能够对80种元素进行精准分析，无标样定量分析，微区分析，薄膜分析，高级次谱线分析。
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