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7月1日上午,国家粮食局和宁夏回族自治区人民政府在银川市共同举办了2017年“全国食品安全宣传周·粮食质量安全宣传日”主会场活动。天瑞仪器携粮食快速检测解决方案与食品重金属快速检测仪系列出席本次活动。
天瑞仪器出席宣传日活动
今年全国粮食质量安全宣传日活动的主题为“尚德守法 共治共享食品安全”,旨在贯彻党中央、国务院关于保障食品安全的一系列决策部署,深入宣传贯彻《食品安全法》,唤起全民共同关注粮食质量安全的意识和行动。活动通过发放科普手册、专家现场讲解、产品展示、展板宣传等多种形式,向广大市民宣传普及食品安全和粮食质量安全知识。
国家粮食局党组书记、局长张务锋(左二)与天瑞仪器副总经理余正东(右一)交流粮食检测技术
宁夏质检中心使用天瑞仪器食品重金属快检仪进行现场试验(图中黄色仪器)
为了保障粮食的绿色优质、安全可靠,让大家吃得放心、吃得安心,天瑞仪器凭借自身多年分析检测技术优势,结合粮食行业实际需求,着手研究粮食安全检测技术并卓有成效。活动现场,天瑞仪器展示了研究成果——粮食快速检测解决方案与EDX 3200S PLUS食品重金属快速检测仪系列。
宁夏粮食局局长参观天瑞仪器展位
EDX 3200S PLUS系列食品重金属快速检测仪系列包括标准型、智能型、加强型与超级星四款食品重金属快速检测仪,客户可根据自身的不同检测需求,选择不同的仪器型号。经国家粮食局标准质量中心测试验证,该系列操作简便、检测快速高效、检出限滴、无需使用试剂、无环境污染,可用于稻米、小麦、谷物、烟草等作物的重金属元素镉(Cd)、铅(Pb)、汞(Hg)、砷(As)、硒(Se)等多种元素的快速无损检测。
天瑞仪器副总经理余正东为参观者介绍天瑞仪器EDX3200S PLUS C
结合粮食行业的特点及实际需求,该系列适用于粮食收购现场、基层粮库、粮食储藏中心站、粮油质检中心等不同应用场景的不同需求,覆盖收购、储存、加工、运输、销售等环节的质量安全要求。同时,该系列测试高效快捷,能实现3分钟精准测试与24种样品同时检测,这是国内粮食检测行业的创新之举。
活动结束后工作人员合影留念
天瑞仪器为粮食中含重金属、农药残留、真菌霉素等国家标准中限量的物质提供快速检测解决方案,为国家粮食系统的安全管控提供有力保障。今后,天瑞仪器也将继续以专业全面服务粮食安全,用天瑞实力彰显行业水平。
天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。
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