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今年两会,环境污染再次成为代表、委员的热议话题。大气污染、水污染和土壤污染,都受到了极大的关注。面对日益严峻的环境问题,天瑞仪器多年来一直致力于环保解决方案的提供。目前,天瑞仪器已具备大气污染、水污染与土壤污染的全套解决方案,针对企业进行环境监测、实现清洁生产与政府进行环保监管、推进环保进程都能提供有效帮助。
(多功能)便携式水质重金属检测仪HM5000P
(多功能)便携式水质重金属检测仪HM-5000P集合了基于权威机构认可的标准方法——阳极溶出法和国家标准方法——光度比色法,同时融合了阳极溶出法高灵敏度、宽检测范围和光度比色法快速、抗干扰性好的特点。可以应用于环境应急检测、自来水检测、电镀和表面处理行业废水检测、食品、制药、医院废水监测等方面。经过研发人员的反复试验与不断努力,HM-5000P可检测的重金属离子由铜、镉、铅、锌、汞、砷、锰、铊、镍、铬、铁、钴等12个,增加至14个,新增可检测重金属离子为银和锑。
重金属有着潜在的毒性和环境持久性,是最危险的人类环境污染物之一。银以及银的相关产品广泛应用于电子、电镀、感光材料、化工工业和科研领域,如果含银废水直接排放在环境中,不仅会污染环境,还将造成银资源的浪费。尤其在电镀行业,废水中的银离子含量是重要监控指标。锑的大部分化合物对人体有害,并证明可以致癌,已被美国国家环保署和欧盟列为优先控制污染物,对含锑废水的监控,事关重大。因此,新增银和锑为可典型检测重金属离子,对环境保护与人类健康都具有重要意义。
一直以来,天瑞仪器都以不断创新为宗旨,在研发与生产中,不断学习不断超越,完成了产品的一次次迭代升级,使之能更好地应对错综复杂的环保监测与检测需求。今后,我们也将继续努力,开拓创新,为环保事业贡献力量。
天瑞分析测试仪器研究院下设三个中心,分别为“分析仪器研发中心”、“理化分析测试中心”和“分析测试技术应用开发中心”。 天瑞分析测试仪器研究院日前人员构成:院士1名,博士11名,高级工程师13名,硕士17名,知名大学本科研发人员50名。
刘召贵先生:清华大学核物理专业博士研究生毕业。先后被评为江苏省优秀企业家、江苏省有突出贡献的中青年专家、昆山市首届科技功臣、国家科技部“科技创新创业人才”。经国务院批准,享受国务院政府特殊津贴。
姚博士毕业于清华大学工程物理系核电子学专业博士研究生毕业,从事分析仪器开发26年,主要从事X荧光分析技术和应用技术等研究,并参与“十三五”国家重点仪器科技攻关,获得“光谱仪光栅二维”发明专利、“X荧光双弯晶固定元素道分光器”专利和“X荧光光谱分析仪的热解石墨晶体分光器”专利等,并参与起草制定了多项国家标准行业标准,是我国X荧光光谱仪行业权威专家。
FP(基本参数)算法是X射线荧光光谱分析的有效方法,能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析,也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。 众所周知,X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响(基体吸收和增强效应),与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中,已经考虑到了基体效应,可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系,使用少数已知样品校正算法去除系统误差,即可达到精确定量的目的。
偏振二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低检测器的检测限。假定由x-射线管阳极产生的x-射线是非偏振的且沿z轴方向入射到靶材(散射体)上,则沿y轴传播的散射束即为线性偏振光。电场矢量在 v平面内振动,振动方向平行于X轴。放置在y轴上的样品被偏振光激发,产生非偏振的荧光x-射线。因样品和样品支撑物在X轴方向上不产生散射辐射,将探测器放置在x轴上可充分利用偏振效应,降低弹性和非弹性散射x光子造成的本底。
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,天瑞仪器设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于RoHS环保无卤指令检测。
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。天瑞仪器独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,引领行业发展趋势和潮流。
天瑞独有的信噪比增强技术,能有效的去除杂音信号干扰,最大限度降低元素检出限,
如图SUPER XRF 1050,对食品中Pb的测定 ,最低可达到0.59ppm。
天瑞专利的智能分析软件,能够对80种元素进行精准分析,无标样定量分析,微区分析,薄膜分析,高级次谱线分析。
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